基于采集卡的高分辨X射线检测系统

张文; 方飞

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针对印刷电路板中BGA器件焊点缺陷检测数字化成像问题,设计了一套应用Matrox公司的Meteorfl-CamemUnk型号采集卡及HAWK-160XI型X-射线源和UNIQ-1800 CCD相机组成的高分辨率X-射线缺陷检测系统.经试验测试最佳放大率下系统分辨率17IP/mm,缺陷分析精度最小分辨率达到0.03mm,并给出测试采集效果图.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2010年第10期|1404-1407|共4页
作者
张文; 方飞;
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作者单位

内江师范学院物理与电子信息工程学院,四川,内江,641112;

内江师范学院物理与电子信息工程学院,四川,内江,641112;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
缺陷检测; 图像处理; 印刷电路板检测; X-射线;

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