使用T3Ster对宇航电子元器件内部热特性的测量

张立; 汪新刚; 崔福利

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使用T3Ster对宇航电子元器件内部热特性的测量

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文章介绍了使用MicReD公司的热测试仪T3Ster测量元器件内部热特性的方法.T3Ster测试仪可以测试各类IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性以及PCB、导热材料等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性.使用T3Ster测试仪对某航天器用电子元器件内部热特性进行了测量,并与器件资料中的热特性数据进行比对,二者相对误差为0.07%,验证了T3Ster测试仪具有测试高可靠度要求的宇航级电子元器件热特性的能力.为宇航电子元器件的热设计与热分析提供重要的试验依据.

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来源
《空间电子技术》 |2011年第2期|59-64|共6页
作者
张立; 汪新刚; 崔福利;
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作者单位

中国空间技术研究院西安分院;

西安;

710000;

中国空间技术研究院西安分院;

西安;

710000;

中国空间技术研究院西安分院;

西安;

710000;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
热测试仪; T3Ster; 航天器; 电子元器件; 热特性;

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