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罗泽辉;
无;
硅二极管; 金属封装; 热阻; 测试;
机译:功率Mosfet的热阻可测量体二极管和饱和测试条件之间的不同值
机译:在没有测试二极管或热阶段的情况下进行热阻测量
机译:具有集成反射器和散热器结构的发光二极管金属封装的热和光学性能
机译:利用具有防并联二极管的多芯片SIC MOSFET模块的光学测量和热阻抗模块的热阻抗测量
机译:深紫外发光二极管的热阻测量
机译:界面改进表面安装紫外线发光的热阻使用氧化石墨烯有机硅复合材料的二极管
机译:用氧化石墨烯有机硅复合材料改善表面贴装紫外发光二极管的界面热阻
机译:mesa和Etch-and-refill平面ImpaTT二极管的热阻和散热分析
机译:压锻法的发光二极管金属外壳和使用相同的发光二极管金属封装,能够通过增加反射面的照度来提高光学装置封装的亮度
机译:用于确定样品的热阻的热阻确定装置,具有将样品保持在测试室中的样品保持器,以使样品与导热隔离。
机译:通过将生产完成后的光发射二极管转移到光学性能测试部分或电气性能测试部分而不通过从生产完成的光发射出来的光电二极管的性能测试方法,对发光二极管进行性能测试一个托盘
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