MLCC reliability HALT Y-doped BaTiO3 accelerated aging X7R activation energy;
机译:高度加速寿命测试(HALT),用于多层陶瓷电容器鉴定
机译:BaTiO_3基X7R多层陶瓷电容器的相混合和可靠性:X射线衍射和拉曼光谱
机译:高加速寿命试验下Ni-Multidayer陶瓷电容器降解局部微观结构的分析
机译:使用高度加速寿命测试(HALT)确定多层陶瓷电容器的可靠性
机译:环境应力对柔性和标准端接多层陶瓷电容器可靠性的影响。
机译:通过加速疲劳寿命测试对滑翔翼复合材料翼梁进行可靠性和使用寿命评估
机译:高加速寿命试验条件下内Ni电极的多层陶瓷电容器的可靠性
机译:Nasa电子零件和封装(NEpp)计划,讨论电容器的高加速寿命测试(HaLT)。