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【2h】

Behavioral data of thin-film single junction amorphous silicon (a-Si) photovoltaic modules under outdoor long term exposure

机译：薄膜单结非晶硅（a-Si）光伏模块在室外长期暴露下的行为数据

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Four years׳ behavioral data of thin-film single junction amorphous silicon (a-Si) photovoltaic (PV) modules installed in a relatively dry and sunny inland site with a Continental-Mediterranean climate (in the city of Jaén, Spain) are presented in this article. The shared data contributes to clarify how the Light Induced Degradation (LID) impacts the output power generated by the PV array, especially in the first days of exposure under outdoor conditions. Furthermore, a valuable methodology is provided in this data article permitting the assessment of the degradation rate and the stabilization period of the PV modules.Further discussions and interpretations concerning the data shared in this article can be found in the research paper “Characterization of degradation and evaluation of model parameters of amorphous silicon photovoltaic modules under outdoor long term exposure” (Kichou et al., 2016) .
机译：四年来的薄膜单结非晶硅（a-Si）光伏（PV）组件的行为数据显示在西班牙哈恩市，具有大陆-地中海气候的相对干燥和阳光充足的内陆站点中本文。共享的数据有助于阐明光诱导降解（LID）如何影响PV阵列产生的输出功率，尤其是在室外条件下暴露的头几天。此外，本文提供了一种有价值的方法，可用于评估光伏组件的降解率和稳定期。有关本文共享数据的进一步讨论和解释，请参见研究论文“降解和表征的特性”。长期暴露在室外的非晶硅光伏组件的模型参数评估”（Kichou等，2016）。

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