• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Applied Surface Science >FT-IR, XPS and PEC characterization of spray deposited hematite thin films
【24h】

FT-IR, XPS and PEC characterization of spray deposited hematite thin films

机译：喷涂沉积赤铁矿薄膜的FT-IR，XPS和PEC表征

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Hematite thin films were prepared by spraying ethanolic solution of ferric trichloride and have been characterized by using Fourier transform infra-red (FT-IR) and X-ray photoelectron spectroscopic (XPS) techniques. The film prepared by spray consists of a single phase of alpha-Fe2O3. The XPS studies confirm that chemical states of Fe3+ and O2- in the film; thereby confirming the formation of the hematite thin films. The photoelectrochemical (PEC) studies have been carried out by forming a three-electrode system using 1 M NaOH electrolyte. The junction is illuminated with white light to obtain I-V characteristics in chopped light. The studies indicate the films exhibit n-type conductivity. (c) 2005 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：通过喷洒三氯化铁的乙醇溶液制备赤铁矿薄膜，并已通过使用傅立叶变换红外（FT-IR）和X射线光电子能谱（XPS）技术进行了表征。喷涂制备的薄膜由单相的α-Fe2O3组成。 XPS研究证实了膜中Fe3 +和O2-的化学状态。从而证实了赤铁矿薄膜的形成。通过使用1 M NaOH电解质形成三电极系统，进行了光电化学（PEC）研究。用白光照射该结，从而在切碎的光中获得I-V特性。研究表明该膜表现出n型导电性。 （c）2005 Elsevier B.V.保留所有权利。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号