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Untersuchungen zur Zeitabhängigkeit der Störfestigkeit von elektronischen Geräten gegenüber pulsförmigen Störbeanspruchungen

机译:对电子设备免疫力的时间依赖性的调查

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摘要

Die Untersuchungsergebnisse zeigen, daß die Störfestigkeit von mikrorechner-gesteuerten Geräten gegenüber pulsförmigen Störgrößen von den internen Funktionsabläufen abhängig sein kann. Es wurde dargestellt, daß in einem Störfestigkeitsnachweis an Geräten mit unterschiedlich störempfindlichen Phasen nur mittlere Werte für eine Störfestigkeit bestimmt werden können, die zudem von der Verteilung der Prüfimpulse auf die einzelnen Phasen abhängig sind. Auch bei der Anwendung gültiger Standards kann in einem Nachweis somit EMV vorgetäuscht werden, was besonders für sicherheitsrelevante Geräte und Anlagen unzulässig ist. Für diese Geräte ist nach speziellen Prüfverfahren zu suchen, wobei erste Ansätze in dargelegt sind. Weitere Untersuchungen zu unterschiedlich störempfindlichen Phasen und die Auswirkungen auf die Störfestigkeit von elektronischen Geräten sind vorgesehen.
机译:检查结果表明,微型计算机控制装置的免疫可以取决于内部功能手术的脉冲紊乱。 已经表明,在具有不同噪声敏感相的装置的故障证明中,只能确定免疫力的免疫力,这也取决于测试脉冲的分布到单个阶段。 即使使用有效标准,EMC也可以预先假装证明,这对于安全相关设备和系统特别不可受理。 对于这些设备,请寻求特殊的测试方法,首先阐述。 提供了对不同敏感阶段的进一步研究和对电子设备免疫的影响。

著录项

  • 来源
    《Elektrie》 |2021年第9499期|17-21|共5页
  • 作者

    R. Vick;

  • 作者单位

    TU Dresden Institut für Automatisierungstechnik;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类
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