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Noise parameters of InP-based double heterojunction base-collector self-aligned bipolar transistors

机译:基于InP的双异质结基极-集电极自对准双极晶体管的噪声参数

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摘要

The noise performances of a new base-collector self-aligned technology of double-heterojunction single-finger InGaAs-InP bipolar transistor are investigated at 300 K. Noise parameter variations are studied versus frequency in the 2-18 GHz range, versus collector current and emitter area. A low minimum noise figure F/sub min/=0.6 dB is demonstrated at 2 GHz with a 4.8-/spl mu/m/sup 2/ emitter. Variations of F/sub min/ show a minimum versus collector current. The high cutoff frequencies of the devices limit the increase of F/sub min/ versus frequency.
机译:研究了一种双基极结单指InGaAs-InP双极晶体管的新型基极-集电极自对准技术在300 K下的噪声性能。研究了噪声参数随频率在2-18 GHz范围内,与集电极电流和发射器区域。在2 GHz和4.8- / spl mu / m / sup 2 /发射器的情况下,证明了最低的最小噪声系数F / sub min / = 0.6 dB。 F / sub min /的变化显示了最小与集电极电流的关系。器件的高截止频率限制了F / sub min /对频率的增加。

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