Analyse des isolants par XPS et AES

J. Cazaux

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Analyse des isolants par XPS et AES

机译：通过XPS和AES进行绝缘分析

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The problems associated to the investigation of insulating materials by XPS and AES are briefly overviewed. They are mainly related to the charging of the specimen which is an electrostatic/electrokinetic problem and to the radiation damages which mainly involve an atomic Auger mechanism. If these mechanisms begin to be well understood they are difficult to predict and to overcome.%Des problèmes rencontrés dans l'analyse des isolants par XPS et AES sont brièvement décrits. Ils sont principalement reliés aux effets de charge qui sont des problèmes d'électrostatique/électrocinétique et aux dégâts d'irradiation qui impliquent principalement un processus Auger atomique. Si ces mécanismes commencent à être bien compris ils restent difficiles à prédire et à remonter.

机译：简要概述了与XPS和AES研究绝缘材料有关的问题。它们主要与作为静电/电动问题的标本的充电有关，并且与辐射破坏有关，辐射破坏主要涉及原子俄歇机理。如果开始很好地理解这些机制，它们将很难预测和克服。％简要介绍了XPS和AES绝缘分析中遇到的问题。它们主要与电荷效应有关，这是静电/电动问题，并且与辐射破坏有关，辐射破坏主要涉及原子俄歇过程。如果这些机制开始被很好地理解，它们仍然很难预测和追踪。

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来源
《Le Vide》 |1996年第279期|p.73-80|共8页
作者
J. Cazaux;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 fre
中图分类真空技术;
关键词
effets de charge; effets d'irradiation; matériaux isolants;

机译：负载效应;辐射效应;绝缘材料;

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