摘要：该文实验研究了厚度ｄ对ＺｎＯ压敏电阻片残压比Ｋ〈，ｒ〉的影响规律，表明残压比同样存在几何效应。实验研究了残压比Ｋ〈，ｒ〉和电位梯度Ｅ〈，１ｍＡ〉、Ｋ〈，ｒ〉和微观结构参数的关系，表明残压比Ｋ〈，ｒ〉随电位梯度Ｅ〈，１ｍＡ〉成反比例下降，随平均晶粒尺寸μ的增大而增大。找到了一个综合微观结构参数－平均晶粒尺寸μ和晶粒尺寸方差σ〈’２〉的乘积（σ〈’２〉μ），能较好地反映电性能与微观结构参数的关系。提出了计算机模拟微观结构模型，并采用计算机模拟了残压比Ｋ〈，ｒ〉和厚度ｄ、Ｋ〈，ｒ〉和平均晶粒尺寸μ以及Ｋ〈，ｒ〉
