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2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop
2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop
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1.
The Effects of ELDRS at Ultra-Low Dose Rates
机译:
ELDRS在超低剂量率下的作用
作者:
Chen Dakai
;
Forney James D.
;
Pease Ronald L.
;
Phan Anthony M.
;
Carts Martin A.
;
Cox Stephen R.
;
Kruckmeyer Kirby
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi
;
Holcombe Bruce
;
Little Bradley
;
Salzman James
;
Chaumont Geraldine
;
Duperray Herve
;
Ouellet Al
;
LaBel Kenneth
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
2.
Total Ionizing Dose and Displacement Damage Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
NASA候选航天器电子设备的总电离剂量和位移损伤简编
作者:
Cochran Donna J.
;
Chen Dakai
;
Oldham Timothy R.
;
Sanders Anthony B.
;
Kim Hak S.
;
Campola Michael J.
;
Buchner Stephen P.
;
LaBel Kenneth A.
;
Marshall Cheryl J.
;
Pellish Jonathan A.
;
Carts Martin A.
;
OBryan Martha V.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
3.
Comparison of TID Response of Micron Technology Single-Level Cell High Density NAND Flash Memories
机译:
微米技术单级单元高密度NAND闪存的TID响应比较
作者:
Nguyen Duc N.
;
Irom Farokh
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
4.
Performance of Commercial Off-the-Shelf Microelectromechanical Systems Sensors in a Pulsed Reactor Environment
机译:
脉冲反应器环境中商用现成的微机电系统传感器的性能
作者:
Holbert Keith E.
;
Heger A. Sharif
;
McCready Steven S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
5.
Radiation Hardness Characterization of a 130nm ASIC Library Technology
机译:
130nm ASIC库技术的辐射硬度表征
作者:
Dumitru Radu
;
Hafer Craig
;
Wu Tzu-Wen
;
Rominger Rob
;
Gardner Harry
;
Milliken Peter
;
Bruno Kevin
;
Farris Teresa
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
6.
Radiation Performance of Commercial SiGe HBT BiCMOS High Speed Operational Amplifiers
机译:
商用SiGe HBT BiCMOS高速运算放大器的辐射性能
作者:
Chen Dakai
;
Pellish Jonathan
;
Phan Anthony
;
Kim Hak
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi
;
Holcombe Bruce
;
Little Bradley
;
Salzman James
;
Marshall Paul
;
LaBel Kenneth
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
7.
Radiation Testing a Very Low-Noise RHBD ASIC Electrometer
机译:
辐射测试超低噪声RHBD ASIC静电计
作者:
Jones Andrew R.
;
OConnor Darren
;
Thiemann Edward
;
Drake Virginia A.
;
Newcomb Gregory
;
White Neil
;
Aalami Dean D.
;
Clark Henry L.
;
Ladbury Raymond L.
;
von Przewoski Barbara
;
Dooley Sharon
;
Finkelstein Seth
;
Haskins Porter
;
Wei Hsu Vicki
;
Kirby Brian
;
Reese Tom
;
Soto Hoffmann Patricia
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
8.
Hardening of Texas Instruments' VC33 DSP
机译:
德州仪器(TI)的VC33 DSP的硬化
作者:
Fuller Robert
;
Morris Wesley
;
Gifford David
;
Lowther Rex
;
Gwin Jon
;
Salzman James
;
Alexander David
;
Hunt Ken
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
9.
2010 REDW Copyright Page
机译:
2010 REDW版权页
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
10.
2010 REDW Welcome Message
机译:
2010 REDW欢迎辞
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
11.
Guide to the 2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
机译:
2009 IEEE辐射效应数据研讨会记录指南
作者:
Hiemstra David M.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
12.
Recent Results for PowerPC Processor and Bridge Chip Testing
机译:
PowerPC处理器和桥接芯片测试的最新结果
作者:
Guertin Steven M.
;
Irom Farokh
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
13.
Single Event Upset Characterization of the Virtex-5 Field Programmable Gate Array Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照的Virtex-5现场可编程门阵列的单事件翻转表征
作者:
Hiemstra David M.
;
Battiston George
;
Gill Prab
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
14.
Sensitivity of 2 Gb DDR2 SDRAMs to Protons and Heavy Ions
机译:
2 Gb DDR2 SDRAM对质子和重离子的敏感性
作者:
Koga R.
;
Yu P.
;
George J.
;
Bielat S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
15.
90-nm Digital Single Event Transient Pulsewidth Measurements
机译:
90 nm数字单事件瞬态脉冲宽度测量
作者:
Lawrence Reed K.
;
Ross Jason F.
;
Wood Neil E.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
16.
SEE Results for a 4-Port SpaceWire Router
机译:
查看4端口SpaceWire路由器的结果
作者:
Hafer Craig
;
Baranski Brian
;
Larsen Jennifer
;
Sievert Fred
;
Jordan Anthony
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
17.
Current Single Event Effects Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
当前用于NASA的候选航天器电子设备的单一事件影响纲要
作者:
OBryan Martha V.
;
LaBel Kenneth A.
;
Pellish Jonathan A.
;
Chen Dakai
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Marshall Cheryl J.
;
Ladbury Ray L.
;
Oldham Timothy R.
;
Kim Hak S.
;
Phan Anthony M.
;
Berg Melanie D.
;
Carts Martin A.
;
Sanders Anthony B.
;
Buchner Stephen P.
;
Marshall Paul W.
;
Xapsos Michael A.
;
Irom Farokh
;
Pearce Larry G.
;
Thomson Eric T.
;
Bernard Theju M.
;
Satterfield Harold W.
;
Williams Alan P.
;
van Vonno Nick W.
;
Salzman James F.
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
18.
Compendium of Test Results of Recent Single Event Effect Tests Conducted by the Jet Propulsion Laboratory
机译:
喷气推进实验室最近进行的单项效果测试的测试结果纲要
作者:
McClure Steven S.
;
Allen Gregory R.
;
Irom Farokh
;
Scheick Leif Z.
;
Adell Philippe C.
;
Miyahira Tetsuo F.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
19.
Cross Comparison Guide for Results of Neutron SEE Testing of Microelectronics Applicable to Avionics
机译:
适用于航空电子的微电子中子SEE测试结果的交叉比较指南
作者:
Normand Eugene
;
Dominik Laura
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
20.
Commercially Designed and Manufactured SDRAM SEE Data
机译:
商业设计和制造的SDRAM SEE数据
作者:
Hafer Craig
;
Von Thun Matthew
;
Leslie Mike
;
Sievert Fred
;
Jordan Anthony
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
21.
SEE Testing of National Semiconductor's LM98640QML System on a Chip for Focal Plane Arrays and Other Imaging Systems
机译:
针对焦平面阵列和其他成像系统的美国国家半导体公司LM98640QML系统芯片上的SEE测试
作者:
Kruckmeyer Kirby
;
Eddy Robert
;
Szczapa Alex
;
Brown Bill
;
Santiago Tom
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
22.
Single Event Latchup (SEL) and Total Ionizing Dose (TID) of a 1 Mbit Magnetoresistive Random Access Memory (MRAM)
机译:
1 Mbit磁阻随机存取存储器(MRAM)的单事件闩锁(SEL)和总电离剂量(TID)
作者:
Heidecker Jason
;
Allen Gregory
;
Sheldon Douglas
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
23.
TID and SEE Responses of Rad-Hardened A/D Converters
机译:
防辐射A / D转换器的TID和SEE响应
作者:
Chaumont Geraldine
;
Uguen Andre
;
Prugne Christophe
;
Malou Florence
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
24.
Total Dose and Single Event Testing of a Hardened Point of Load Regulator
机译:
硬化负载调节器的总剂量和单事件测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Gill J. S.
;
Satterfield H. W.
;
Thomson E. T.
;
Fobes T. E.
;
Williams A. P.
;
Chesley P. J.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
25.
Single Event and Low Dose-Rate TID Effects in the DS16F95 RS-485 Transceiver
机译:
DS16F95 RS-485收发器中的单事件和低剂量率TID效应
作者:
Kelly Andrew T.
;
Fleming Patrick R.
;
Brown Ronald D.
;
Wong Frankie
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
26.
Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 AT90CAN128
机译:
8位微控制器ATmega128和AT90CAN128的辐射测试
作者:
Schuttauf A.
;
Rakers S.
;
Daniel C.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
27.
ELDRS Characterization for a Very High Dose Mission
机译:
高剂量任务的ELDRS表征
作者:
Harris Richard D.
;
McClure Steven S.
;
Rax Bernard G.
;
Thornbourn Dennis O.
;
Kenna Aaron J.
;
Clark Karla B.
;
Yan Tsun-Yee
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
28.
Single Event Transient and ELDRS Characterization Test Results for LM4050QML 2.5V Precision Reference
机译:
LM4050QML 2.5V精密基准电压源的单事件瞬态和ELDRS表征测试结果
作者:
Kruckmeyer Kirby
;
Morozumi Elisa
;
Eddy Robert
;
Trinh Thang
;
Santiago Tom
;
Maillard Pierre
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
29.
SEU Testing of SiGe Bipolar and BiCMOS Circuits
机译:
SiGe双极和BiCMOS电路的SEU测试
作者:
Hansen David L.
;
Le Anthony
;
Chesnut Kay
;
Miller Eric
;
Pong Steven
;
Sung Sichul
;
Truong John
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
30.
Single Event Transient and ELDRS Characterization Test Results for LM4050QML 2.5V Precision Reference
机译:
LM4050QML 2.5V精密基准电压源的单事件瞬态和ELDRS表征测试结果
作者:
Kruckmeyer Kirby
;
Morozumi Elisa
;
Eddy Robert
;
Trinh Thang
;
Santiago Tom
;
Maillard Pierre
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
31.
SEU Testing of SiGe Bipolar and BiCMOS Circuits
机译:
SiGe双极和BiCMOS电路的SEU测试
作者:
Hansen David L.
;
Le Anthony
;
Chesnut Kay
;
Miller Eric
;
Pong Steven
;
Sung Sichul
;
Truong John
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
32.
2010 REDW Copyright Page
机译:
2010 REDW版权页
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
33.
2010 REDW Welcome Message
机译:
2010 REDW欢迎辞
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
34.
Guide to the 2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
机译:
2009 IEEE辐射效应数据研讨会记录指南
作者:
Hiemstra David M.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
35.
Recent Results for PowerPC Processor and Bridge Chip Testing
机译:
PowerPC处理器和桥接芯片测试的最新结果
作者:
Guertin Steven M.
;
Irom Farokh
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
36.
Single Event Upset Characterization of the Virtex-5 Field Programmable Gate Array Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照的Virtex-5现场可编程门阵列的单事件翻转表征
作者:
Hiemstra David M.
;
Battiston George
;
Gill Prab
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
37.
Sensitivity of 2 Gb DDR2 SDRAMs to Protons and Heavy Ions
机译:
2 Gb DDR2 SDRAM对质子和重离子的敏感性
作者:
Koga R.
;
Yu P.
;
George J.
;
Bielat S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
38.
90-nm Digital Single Event Transient Pulsewidth Measurements
机译:
90 nm数字单事件瞬态脉冲宽度测量
作者:
Lawrence Reed K.
;
Ross Jason F.
;
Wood Neil E.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
39.
SEE Results for a 4-Port SpaceWire Router
机译:
查看4端口SpaceWire路由器的结果
作者:
Hafer Craig
;
Baranski Brian
;
Larsen Jennifer
;
Sievert Fred
;
Jordan Anthony
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
40.
Current Single Event Effects Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
当前用于NASA的候选航天器电子设备的单一事件影响纲要
作者:
OBryan Martha V.
;
LaBel Kenneth A.
;
Pellish Jonathan A.
;
Chen Dakai
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Marshall Cheryl J.
;
Ladbury Ray L.
;
Oldham Timothy R.
;
Kim Hak S.
;
Phan Anthony M.
;
Berg Melanie D.
;
Carts Martin A.
;
Sanders Anthony B.
;
Buchner Stephen P.
;
Marshall Paul W.
;
Xapsos Michael A.
;
Irom Farokh
;
Pearce Larry G.
;
Thomson Eric T.
;
Bernard Theju M.
;
Satterfield Harold W.
;
Williams Alan P.
;
van Vonno Nick W.
;
Salzman James F.
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
41.
Compendium of Test Results of Recent Single Event Effect Tests Conducted by the Jet Propulsion Laboratory
机译:
喷气推进实验室最近进行的单项效果测试的测试结果纲要
作者:
McClure Steven S.
;
Allen Gregory R.
;
Irom Farokh
;
Scheick Leif Z.
;
Adell Philippe C.
;
Miyahira Tetsuo F.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
42.
Cross Comparison Guide for Results of Neutron SEE Testing of Microelectronics Applicable to Avionics
机译:
适用于航空电子的微电子中子SEE测试结果的交叉比较指南
作者:
Normand Eugene
;
Dominik Laura
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
43.
Commercially Designed and Manufactured SDRAM SEE Data
机译:
商业设计和制造的SDRAM SEE数据
作者:
Hafer Craig
;
Von Thun Matthew
;
Leslie Mike
;
Sievert Fred
;
Jordan Anthony
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
44.
SEE Testing of National Semiconductor's LM98640QML System on a Chip for Focal Plane Arrays and Other Imaging Systems
机译:
针对焦平面阵列和其他成像系统的美国国家半导体公司LM98640QML系统芯片上的SEE测试
作者:
Kruckmeyer Kirby
;
Eddy Robert
;
Szczapa Alex
;
Brown Bill
;
Santiago Tom
会议名称:
《》
|
2010年
45.
Single Event Latchup (SEL) and Total Ionizing Dose (TID) of a 1 Mbit Magnetoresistive Random Access Memory (MRAM)
机译:
1 Mbit磁阻随机存取存储器(MRAM)的单事件闩锁(SEL)和总电离剂量(TID)
作者:
Heidecker Jason
;
Allen Gregory
;
Sheldon Douglas
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
46.
TID and SEE Responses of Rad-Hardened A/D Converters
机译:
防辐射A / D转换器的TID和SEE响应
作者:
Chaumont Geraldine
;
Uguen Andre
;
Prugne Christophe
;
Malou Florence
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
47.
Total Dose and Single Event Testing of a Hardened Point of Load Regulator
机译:
硬化负载调节器的总剂量和单事件测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Gill J. S.
;
Satterfield H. W.
;
Thomson E. T.
;
Fobes T. E.
;
Williams A. P.
;
Chesley P. J.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
48.
Single Event and Low Dose-Rate TID Effects in the DS16F95 RS-485 Transceiver
机译:
DS16F95 RS-485收发器中的单事件和低剂量率TID效应
作者:
Kelly Andrew T.
;
Fleming Patrick R.
;
Brown Ronald D.
;
Wong Frankie
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
49.
Radiation Test of 8 Bit Microcontrollers ATmega128 AT90CAN128
机译:
8位微控制器ATmega128和AT90CAN128的辐射测试
作者:
Schuttauf A.
;
Rakers S.
;
Daniel C.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
50.
ELDRS Characterization for a Very High Dose Mission
机译:
高剂量任务的ELDRS表征
作者:
Harris Richard D.
;
McClure Steven S.
;
Rax Bernard G.
;
Thornbourn Dennis O.
;
Kenna Aaron J.
;
Clark Karla B.
;
Yan Tsun-Yee
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
51.
The Effects of ELDRS at Ultra-Low Dose Rates
机译:
ELDRS在超低剂量率下的作用
作者:
Chen Dakai
;
Forney James D.
;
Pease Ronald L.
;
Phan Anthony M.
;
Carts Martin A.
;
Cox Stephen R.
;
Kruckmeyer Kirby
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi
;
Holcombe Bruce
;
Little Bradley
;
Salzman James
;
Chaumont Geraldine
;
Duperray Herve
;
Ouellet Al
;
LaBel Kenneth
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
52.
Total Ionizing Dose and Displacement Damage Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
NASA候选航天器电子设备的总电离剂量和位移损伤简编
作者:
Cochran Donna J.
;
Chen Dakai
;
Oldham Timothy R.
;
Sanders Anthony B.
;
Kim Hak S.
;
Campola Michael J.
;
Buchner Stephen P.
;
LaBel Kenneth A.
;
Marshall Cheryl J.
;
Pellish Jonathan A.
;
Carts Martin A.
;
OBryan Martha V.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
53.
Comparison of TID Response of Micron Technology Single-Level Cell High Density NAND Flash Memories
机译:
微米技术单级单元高密度NAND闪存的TID响应比较
作者:
Nguyen Duc N.
;
Irom Farokh
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
54.
Performance of Commercial Off-the-Shelf Microelectromechanical Systems Sensors in a Pulsed Reactor Environment
机译:
脉冲反应器环境中商用现成的微机电系统传感器的性能
作者:
Holbert Keith E.
;
Heger A. Sharif
;
McCready Steven S.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
55.
Radiation Hardness Characterization of a 130nm ASIC Library Technology
机译:
130nm ASIC库技术的辐射硬度表征
作者:
Dumitru Radu
;
Hafer Craig
;
Wu Tzu-Wen
;
Rominger Rob
;
Gardner Harry
;
Milliken Peter
;
Bruno Kevin
;
Farris Teresa
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
56.
Radiation Performance of Commercial SiGe HBT BiCMOS High Speed Operational Amplifiers
机译:
商用SiGe HBT BiCMOS高速运算放大器的辐射性能
作者:
Chen Dakai
;
Pellish Jonathan
;
Phan Anthony
;
Kim Hak
;
Burns Sam
;
Albarian Rafi
;
Holcombe Bruce
;
Little Bradley
;
Salzman James
;
Marshall Paul
;
LaBel Kenneth
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
57.
Radiation Testing a Very Low-Noise RHBD ASIC Electrometer
机译:
辐射测试超低噪声RHBD ASIC静电计
作者:
Jones Andrew R.
;
OConnor Darren
;
Thiemann Edward
;
Drake Virginia A.
;
Newcomb Gregory
;
White Neil
;
Aalami Dean D.
;
Clark Henry L.
;
Ladbury Raymond L.
;
von Przewoski Barbara
;
Dooley Sharon
;
Finkelstein Seth
;
Haskins Porter
;
Wei Hsu Vicki
;
Kirby Brian
;
Reese Tom
;
Soto Hoffmann Patricia
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
58.
Hardening of Texas Instruments' VC33 DSP
机译:
德州仪器(TI)的VC33 DSP的硬化
作者:
Fuller Robert
;
Morris Wesley
;
Gifford David
;
Lowther Rex
;
Gwin Jon
;
Salzman James
;
Alexander David
;
Hunt Ken
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
59.
2010 REDW Author Index
机译:
2010 REDW作者索引
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
60.
Total Dose and Single Event Testing of a Hardened Single-Ended Current Mode PWM Controller
机译:
加固的单端电流模式PWM控制器的总剂量和单事件测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Wood G. M.
;
White J. D.
;
Thomson E. J.
;
Bernard T. M.
;
Chesley P. J.
;
Hood R.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
61.
2010 REDW Author Index
机译:
2010 REDW作者索引
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
62.
Total Dose and Single Event Testing of a Hardened Single-Ended Current Mode PWM Controller
机译:
加固的单端电流模式PWM控制器的总剂量和单事件测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. G.
;
Wood G. M.
;
White J. D.
;
Thomson E. J.
;
Bernard T. M.
;
Chesley P. J.
;
Hood R.
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
63.
2010 REDW Cumulative Index
机译:
2010 REDW累积指数
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
64.
2010 REDW Cumulative Index
机译:
2010 REDW累积指数
会议名称:
《2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2010年
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