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首页> 外文期刊>Journal of Physics, D. Applied Physics: A Europhysics Journal >Image simulation of a corrugated surface in the constant-force-gradient mode of the scanning force microscope
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Image simulation of a corrugated surface in the constant-force-gradient mode of the scanning force microscope

机译：扫描力显微镜恒力梯度模式下波纹表面的图像模拟

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A simple numerical method allowing one to simulate the imaging process in the non-contact mode of the scanning force microscope in the case of a pyramidal tip interacting with a corrugated surface is presented. The attractive van der Waals and repulsive forces are described by a Lennard-Jones-type potential in order to study the image of nanostructures in the constant-height and constant-force-gradient modes. The influence of the tip's shape is demonstrated and the notion of resolution is discussed for both modes. We also analyse the consequences of the chemical natures of the nanostructures and the substrate for the image. [References: 33]
机译：提出了一种简单的数值方法，可以在锥体尖端与波纹表面相互作用的情况下以扫描力显微镜的非接触模式模拟成像过程。 Lennard-Jones型势能描述了吸引力的范德华力和排斥力，以便研究恒定高度和恒定力梯度模式下的纳米结构图像。演示了笔尖形状的影响，并讨论了两种模式的分辨率概念。我们还分析了纳米结构和图像衬底的化学性质的后果。 [参考：33]

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