...
首页> 外文期刊>Физика >ГИСТЕРЕЗИСНЫЕ ЯВЛЕНИЯ В МДП-СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ВАРИЗОННОГО МЛЭ HGCDTE С ДВУХСЛОЙНЫМ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ SIO 2/SI 3N 4
【24h】

ГИСТЕРЕЗИСНЫЕ ЯВЛЕНИЯ В МДП-СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ВАРИЗОННОГО МЛЭ HGCDTE С ДВУХСЛОЙНЫМ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ SIO 2/SI 3N 4

机译:基于两层等离子体化学SIO 2 / SI 3N 4的Varizon MBE HGCDTE的MIS结构中的迟滞现象

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Проведены исследования вольт-фарадных характеристик (ВФХ) МДП-структур на основе варизонного МЛЭ Hg_(1- x) Cd_x Te ( x = 0.22-0.23) с двухслойным плазмохимическим диэлектриком SiO_2/Si_3N_4 при изменении направления развертки напряжения. Выявлены особенности ВФХ при прямой и обратной развертке напряжения для МДП-структур на основе n -HgCdTe и p -HgCdTe. Полученные результаты свидетельствуют о важной роли в гистерезисных явлениях захвата электронов на состояния переходного слоя между полупроводником HgCdTe и диэлектриком SiO 2. Установлено, что при нанесении диэлектрика вблизи границы раздела образуются примесно-дефектные центры донорного типа, плотность состояний которых в переходном слое составляет (0.6-2.1)·10~(11) см~(-2).
机译:我们已经研究了基于梯度间隙MBE Hg_(1-x)Cd_x Te(x = 0.22-0.23)和两层等离子体化学电介质SiO_2 / Si_3N_4的MIS结构的电容-电压特性(CVC),其中电压扫描方向发生了变化。 CV特性的特定特征在基于n-HgCdTe和p-HgCdTe的MIS结构的正向和反向电压扫描中显示。所获得的结果表明,在半导体HgCdTe和绝缘体SiO 2之间的过渡层状态下,电子捕获的滞后现象起着重要作用。已经确定,当电介质沉积在界面附近时,会形成施主类型的杂质缺陷中心,其在过渡层中的状态密度为(0.6- 2.1)10〜(11)厘米〜(-2)。

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号