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【24h】

RF-MBE法によるサファイア基板上の高品質InN薄膜成長-低温成長InN/GaNバッファー層の効果

机译:通过RF-MBE方法在蓝宝石衬底上高质量生长InN薄膜-低温生长InN / GaN缓冲层的作用

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摘要

RF-MBE法によるサファイア基板上のInN薄膜成長において、サファイア基板上に低温成長GaN中間緩衝層と低温成長InN層からなるバッファー層を導入することにより、InN薄膜の膜質および基板への密着性が大幅に改善されることを発見した。 厚さ260nmのInN薄膜の表面RMSラフネス値は3.8nmと非常に平坦であり、室温におけるホール移動度は1420cm{sup}2/V·S、キャリア濃度は1.4×10{sup}18cm{sup}(-3)であった。
机译:在通过RF-MBE方法在蓝宝石衬底上生长InN薄膜时,通过在蓝宝石衬底上引入由低温生长GaN中间缓冲层和低温生长InN层组成的缓冲层,可以提高InN薄膜的膜质量及其对衬底的附着力。我发现它将大大改善。厚度为260 nm的InN薄膜的表面RMS粗糙度值平坦至3.8 nm,室温下的空穴迁移率为1420 cm {sup} 2 / VS,载流子浓度为1.4×10 {sup} 18 cm {sup}。是(-3)。

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