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机译:探针显微镜“AFM5500M”微区域的三维形状测量
㈱日立ハイテクサイエンス;
机译:使用探针显微镜“ AFM5500M”对微小区域进行三维形状测量
机译:推出扫描探针显微镜系统“ AFM5500M” =大大提高了测量精度和可操作性,并支持工业测量,例如纳米区域的研发=质量控制=
机译:发布的扫描探头显微镜系统“AFM5500M”=测量精度和可操作性显着提高,纳米区域的研发对应于KEIJI测量,如质量控制=
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