個別半導体の特性パラメータ測定器の製作

森栄二; Eiji Mori

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個別半導体の特性パラメータ測定器の製作

机译：生产各个半导体特性参数测量仪器

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仕事でディスクリートのトランジスタやダイオードの特性パラメータを測定することがあります．その際，私はよくGPIBインターフェースの付いたプログラマブル電波を伴います．

机译：在工作中，可以测量离散晶体管和二极管特性参数。那时，我经常涉及使用GPIB接口的可编程无线电波。

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来源
《トランジスタ技術》 |2003年第9期|共11页
作者
森栄二; Eiji Mori;
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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 jpn
中图分类半导体三极管（晶体管）;
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