...
首页> 外文期刊>Физика >ГИСТЕРЕЗИСНЫЕ ЯВЛЕНИЯ В МДП-СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ВАРИЗОННОГО МЛЭ HGCDTE С ДВУХСЛОЙНЫМ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ SIO 2/SI 3N 4
【24h】

ГИСТЕРЕЗИСНЫЕ ЯВЛЕНИЯ В МДП-СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ВАРИЗОННОГО МЛЭ HGCDTE С ДВУХСЛОЙНЫМ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ SIO 2/SI 3N 4

机译:基于变量MBE HGCDTE的TIR结构滞后现象用双层等离子体化学电介质SIO 2 / SI 3N 4

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Проведены исследования вольт-фарадных характеристик (ВФХ) МДП-структур на основе варизонного МЛЭ Hg_(1- x) Cd_x Te ( x = 0.22-0.23) с двухслойным плазмохимическим диэлектриком SiO_2/Si_3N_4 при изменении направления развертки напряжения. Выявлены особенности ВФХ при прямой и обратной развертке напряжения для МДП-структур на основе n -HgCdTe и p -HgCdTe. Полученные результаты свидетельствуют о важной роли в гистерезисных явлениях захвата электронов на состояния переходного слоя между полупроводником HgCdTe и диэлектриком SiO 2. Установлено, что при нанесении диэлектрика вблизи границы раздела образуются примесно-дефектные центры донорного типа, плотность состояний которых в переходном слое составляет (0.6-2.1)·10~(11) см~(-2).
机译:基于变量MBE HG_(1- X)CD_X TE(X = 0.22-0.23)的TIR结构的电压 - 传真特性(VFH)具有双层等离子体 - 化学介质电介质SiO_2 / Si_3N_4可以改变方向电压扫描。基于N-HGCDTE和P-HGCDTE的MDP结构,用直接和反向电压扫描识别WFC的特征。所获得的结果表明了在HGCDTE半导体和SiO 2之间的过渡层的状态捕获的滞后现象中的重要作用。在介电单元之间建立了当施加到界面附近的电介质时,杂质中心形成供体类型,形成过渡层中的状态的密度(0.6-2.1)·10〜(11)cm〜(-2)。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号