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Atomic force microscopy of slip lines on the surface of a fatigued nickel single crystal

机译：疲劳镍单晶表面滑移线的原子力显微镜

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Atomic force microscopy (AFM) was used to determine the width and the height of slip steps which emerged at the polished surface of a cyclically strained nickel crystal due to strain localization in slip bands (SBs), after a deformation of one half-cycle in tension. In addition to the AFM measurements the dislocation arrangements beneath the specimen surface were imaged with scanning electron microscopy (SEM), applying the electron channelling contrast technique. The evaluation of the AFM and SEM measurements made it possible to determine the volume fraction of slip bands and the spectrum of resolved shear strains in the SBs for the imposed shear strain amplitude. The results are discussed within the framework of the‘two-phase’model of Winter.
机译：原子力显微镜（AFM）用于确定滑移台阶的宽度和高度，该滑移台阶是由于滑带（SBs）中的应变局部化而在循环应变镍晶体的抛光表面上出现的。张力。除了进行原子力显微镜测量外，还采用电子沟道对比技术，通过扫描电子显微镜（SEM）对样品表面下方的位错排列进行成像。通过对AFM和SEM测量的评估，可以确定滑动带的体积分数以及SB中所施加的剪切应变幅度的解析剪切应变谱。在Winter的“两阶段”模型框架内讨论了结果。

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