Voltage; Integrated circuits; Semiconductors; Lasers; Surface properties; Steadystate; Density; Measurement; Thickness; Spectroscopy; Gallium arsenides; Energy; Thin films; Fabrication; Illumination; Variables; Spectra; Sampling; Photons; Wafers; Qualitat;
机译:一种新型的半导体非接触式表征方法:扫描电子显微镜中的表面电子束感应电压
机译:基于超高压非接触电容-电压测量的化合物半导体异质结构生长的原位表征技术和器件加工步骤
机译:使用横向声电电压与电压测量的半导体表面表征
机译:用表面电子束感应电压法表征半导体结构
机译:使用非接触热激励寿命测量来评估宽带隙半导体中的电子衰减。
机译:使用双光子激发的非接触式基于THz的体半导体迁移率测量
机译:实现用于半导体表征的电容电压测量系统