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一种太赫兹透镜、其制备方法及包含其的太赫兹光学系统

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本发明提供了一种太赫兹透镜、其制备方法及包含其的太赫兹光学系统。所述太赫兹透镜包括一层液晶聚合物薄膜；所述液晶聚合物薄膜从中心到边缘连续分为一个中心圆区和与所述中心圆区同心的多个圆环区，所述中心圆区或任一个圆环区为一个子区域；同一个所述子区域内的分子指向矢方向相同；所述子区域内的分子指向矢方向从所述液晶聚合物薄膜的中心到边缘沿顺时针或逆时针逐渐偏转，且所述子区域的宽度从所述液晶聚合物薄膜的中心到边缘逐渐减小，使得所述液晶聚合物薄膜的分子指向矢方向从中心到边缘呈周期逐渐减小的周期性变化。本发明提供的太赫兹透镜具有平面化和柔性可弯曲的特点，能够实现更高的集成度，且具有良好的加工便捷性和可调谐性。

著录项

公开/公告号CN110196462A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-09-03

原文格式PDF
申请/专利权人苏州晶萃光学科技有限公司;南京宁萃光学科技有限公司;
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申请/专利号CN201910572840.8
发明设计人胡伟;沈志雄;葛士军;
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申请日2019-06-28
分类号
代理机构北京品源专利代理有限公司;
代理人巩克栋
地址 215500 江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区黄浦江路128号
入库时间 2024-02-19 12:59:14

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-09-27

实质审查的生效 IPC(主分类):G02B3/00 申请日:20190628

实质审查的生效
2019-09-03

公开

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1. 一种太赫兹透镜、其制备方法及包含其的太赫兹光学系统 [P] . 中国专利： CN110196462A . 2019-09-03
2. 一种可调太赫兹透镜及其制备方法和应用 [P] . 中国专利： CN111399262A . 2020-07-10
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机译：用于产生太赫兹波的半导体晶体，包含该晶体的太赫兹波发生器，用于检测太赫兹波的半导体晶体以及包含该晶体的太赫兹波检测器