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一种基于超精密铣削工艺的光栅尺误差补偿方法

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一种基于超精密铣削工艺的光栅尺误差补偿方法，属于光栅尺测量技术领域。建立铣削平面误差条纹模型，加工多个不同角度的平面，并进行表面形貌检测，将检测结果与模型对比，判断正弦性，确定机床光栅尺误差的同步位置，确定补偿相位值，确定补偿量；确定补偿计算式，建立误差补偿表，进行变换补偿。本发明可以有效地识别因光栅尺误差而产生的表面条纹，识别光栅尺误差，大幅度提高了切削表面质量，有效地降低了工件表面粗糙度；补偿后机床加工零件的表面粗糙度值是未补偿表面的50％～60％，表面质量提高1～2倍。

著录项

公开/公告号CN111546134A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-18

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
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申请/专利号CN202010302054.9
发明设计人宗文俊;崔志鹏;吴立强;吴兵;赵学森;胡振江;孙涛;
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申请日2020-04-16
分类号B23Q17/24(20060101);
代理机构23206 哈尔滨龙科专利代理有限公司;
代理人高媛
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2023-12-17 10:50:27

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2020-08-18

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