公开/公告号CN106092132A
专利类型发明专利
公开/公告日2016-11-09
原文格式PDF
申请/专利权人 天津滨海新区景福电子科技有限公司;
申请/专利号CN201610631713.7
发明设计人 李玉丹;
申请日2016-08-02
分类号G01C22/00;G01S15/08;G01S17/08;G01B11/02;A61B5/024;
代理机构
代理人
地址 300280 天津市滨海新区大港中塘镇中信路西侧中塘工业区管委会大楼106-8室
入库时间 2023-06-19 00:52:11
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-05-05
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01C22/00 申请公布日:20161109 申请日:20160802
发明专利申请公布后的视为撤回
2016-11-09
公开
公开
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 用于对生物测试样本中的一种或多种目标类型的目标分子存在进行测试的缓冲液的测试系统;用于测试生物测试样品中一种或多种目标类型的目标分子的存在的测试系统;以及靶向分子以促进对生物测试样品的一种或多种靶类型的靶分子的存在的测试的方法。
机译: 用于测试系统的方法,用于检测至少一种气体分析物的系统以及用于测试系统中的至少一种传输方式的方法。