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集成环切轨迹与变半径摆线轨迹的型腔加工轨迹生成方法

摘要

本发明提供集成环切轨迹与变半径摆线轨迹的型腔加工轨迹生成方法。该方法首先以外轮廓向内偏置、内轮廓向外偏置的方式,逐层构建型腔的环切走刀轨迹;然后,预测沿该环切路径加工时材料去除率的变化,自动识别并划分出型腔的危险加工区域;进而,采用变半径的摆线走刀轨迹填充危险加工区域,以替代环切轨迹,并调节摆线走刀的进给速度、径向切削深度等参数,以保持摆线走刀与环切走刀时材料去除率的基本一致。本发明提出的加工轨迹生成方法,能够避免型腔加工过程中由于材料去除率的变化而造成的刀具瞬时冲击载荷过大,有助于提升加工进给速度与型腔的加工效率,并延长刀具使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN106647634A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201610974215.2

  • 发明设计人 李静蓉;廖昭洋;王清辉;

    申请日2016-11-04

  • 分类号G05B19/4093(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人何淑珍

  • 地址 510640 广东省广州市广州天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 02:09:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B19/4093 申请日:20161104

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

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