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用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统

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摘要

一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统，其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。

著录项

  • 公开/公告号CN108694273A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201810325304.3

  • 发明设计人 许诺;王敬;崔祐晟;江正平;

    申请日2018-04-12

  • 分类号

  • 代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人刘培培

  • 地址 韩国京畿道水原市灵通区三星路129号

  • 入库时间 2023-06-19 06:49:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20180412

    实质审查的生效

  • 2018-10-23

    公开

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