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一种基于勒贝格采样的正电子成像方法

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本发明提供一种基于勒贝格采样的正电子成像方法，该方法包括如下步骤：步骤S1：晶体阵列吸收γ光子并将其转换为可见光，然后经光电转换得到闪烁脉冲进行读出；步骤S2：对闪烁脉冲进行勒贝格采样，输出数字采样点；步骤S3：对数字采样信息进行分析，重建闪烁脉冲信号，提取信息；步骤S4：基于单事件信息设置能量窗和时间窗保留真符合事件；步骤S5：重建图像并进行分析，对其进行校正优化。并包括以下模块：硬件数据采集模块，勒贝格采样模块，软件数据处理模块。本发明能够对闪烁脉冲实现可变采样速率采样，区别于依赖高采样频率硬件的传统周期性采样方法，降低对数据计算和通信的要求，高效低成本地实现闪烁脉冲数字化。

著录项

公开/公告号CN112068179A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-11

原文格式PDF
申请/专利权人南昌大学;
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申请/专利号CN202010810304.X
发明设计人邓贞宙;凌亮;周凯;
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申请日2020-08-13
分类号G01T1/164(20060101);G01T1/172(20060101);
代理机构36129 南昌金轩知识产权代理有限公司;
代理人牛永山
地址 330000 江西省南昌市红谷滩新区学府大道999号
入库时间 2023-06-19 08:04:59

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2023-03-17

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01T 1/164 专利申请号:202010810304X 申请公布日:20201211

发明专利申请公布后的视为撤回

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外文文献

1. 一种基于勒贝格采样的正电子成像方法 [P] . 中国专利： CN112068179A . 2020-12-11
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