首页> 中国专利> 一种基于数据驱动的IGBT器件剩余使用寿命预测方法

一种基于数据驱动的IGBT器件剩余使用寿命预测方法

摘要

本发明揭示一种基于数据驱动的IGBT器件剩余使用寿命预测方法,包括以下步骤:对IGBT器件进行加速老化负载测试,得到集电极‑发射极电压变化曲线;采集老化阶段持续时间数据,得到老化数据集;构造RUL预测模型,并以老化数据集作为RUL预测模型的数据驱动,进行IGBT器件的剩余使用寿命预测,得出预测结果;对预测结果进行比较,得出最佳RUL值。本发明通过比较基于NN的预测模型与基于ANFIS的预测模型在不同阶段的预测结果,取较小值作为预测值,误差小,准确度好,有效避免IGBT器件意外故障或突然故障会导致停机时间过长和大量损失。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-01

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/26 专利申请号:2020106668869 申请公布日:20200929

    发明专利申请公布后的驳回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号