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快速筛选极端PVT角对应极端RC角的方法、装置及电子设备

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摘要

本发明的实施例公开了一种快速筛选极端PVT角对应极端RC角的方法、装置及电子设备，涉及集成电路技术领域，用以在硬宏余量仿真中节省仿真时间，提高仿真结果准确度。所述方法包括：搭建两种以上不同逻辑电路，画出对应版图并从中抽取寄生参数网表；基于预先选定的PVT角，遍历所有RC角构建工艺组合，并利用所述寄生参数网表对所述两种以上不同逻辑电路进行仿真；测量每个电路在每种工艺组合下的延时；对同一电路在不同RC角下的延时做归一化处理，并将同一RC角下不同电路的延时进行相加，得到与RC角一一对应的延时加和；将所述延时加和按大小进行排序；根据所述延时加和的排序确定所述预先选定的PVT角对应的极端RC角。本发明适用于硬宏余量仿真场合。

著录项

  • 公开/公告号CN112597722A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海光信息技术股份有限公司;

    申请/专利号CN202011643869.X

  • 发明设计人 白海银;黄瑞锋;

    申请日2020-12-30

  • 分类号G06F30/33(20200101);

  • 代理机构11237 北京市广友专利事务所有限责任公司;

  • 代理人张仲波

  • 地址 300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

  • 入库时间 2023-06-19 10:27:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-07

    授权

    发明专利权授予

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