公开/公告号CN113374470A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-10
原文格式PDF
申请/专利号CN202110667997.6
申请日2021-06-16
分类号E21B47/06(20120101);E21B47/07(20120101);E21B47/00(20120101);E21B49/08(20060101);E21B43/24(20060101);
代理机构41119 郑州睿信知识产权代理有限公司;
代理人郑英飞
地址 100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
入库时间 2023-06-19 12:32:17
机译: 用于生产半导体器件的生产工艺,由此生产的半导体器件以及用于在这种半导体器件的生产中进行成品率测试的测试系统
机译: 用于生产半导体器件的生产工艺,由此生产的半导体器件以及用于在这种半导体器件的生产中进行成品率测试的测试系统
机译: 用于生产半导体器件的生产工艺,由此生产的半导体器件以及用于在这种半导体器件的生产中进行成品率测试的测试系统