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非线性矢量网络分析仪双端口校准方法

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非线性矢量网络分析仪双端口校准方法，它涉及微波毫米波测量技术领域。它解决了现有非线性矢量网络分析仪双端口校准技术的校准方案单一、校准结果难以自检的问题。采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路、负载、功率、相位和直通校准，获得校准件的标称值和实际测量值，根据获得的所有系数确定8项误差模型，实现非线性矢量网络分析仪的校准。本发明适用于信号分析及对非线性器件的特性进行最深入的分析。

著录项

公开/公告号CN102981135B

专利类型发明专利
公开/公告日2014-12-10

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
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申请/专利号CN201210468209.1
发明设计人张亦弛;林茂六;苟元潇;
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申请日2012-11-13
分类号G01R35/00(20060101);
代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人牟永林
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2022-08-23 09:22:42

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-12-10

授权

授权
2013-04-17

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20121113

实质审查的生效
2013-03-20

公开

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1. 非线性矢量网络分析仪双端口校准方法 [P] . 中国专利： CN102981135B . 2014.12.10
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机译：用于半导体晶片多端口测量的矢量网络分析仪校准，涉及分别使用已知阻抗和未知反射端接在多个单端口进行校准测量
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