公开/公告号CN205941924U
专利类型实用新型
公开/公告日2017-02-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国工程物理研究院核物理与化学研究所;
申请/专利号CN201620915311.5
申请日2016-08-23
分类号
代理机构中国工程物理研究院专利中心;
代理人翟长明
地址 621999 四川省绵阳市919信箱215分箱
入库时间 2022-08-22 02:09:53
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-07
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T1/10 授权公告日:20170208 终止日期:20190823 申请日:20160823
专利权的终止
2017-02-08
授权
授权
机译: 用于光学刺激的发光(OSL)和热荧光(TL)辐射剂量测定的掺杂BEO化合物
机译: 用于光激发发光(OSL)和热发光(TL)辐射剂量的掺杂的BEO化合物
机译: 在光谱模式下使用的辐射探测器,尤其是一种通过X射线或γ射线探测器测量辐射剂量的方法,以及使用该方法的辐射剂量测量系统