• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中国专利> OLED屏半衰期自动测量装置

OLED屏半衰期自动测量装置

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 法律信息
  • 相似文献

摘要

本实用新型涉及一种显示屏寿命测量装置，尤其是OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架、抽屉、硅光二极管、导通探针、治具盖板和治具底座；所述机架上设有多个插口，所述抽屉滑动插在插口中；所述治具底座固定在抽屉上，治具底座的顶部设有固定槽，固定槽内放置有OLED屏；所述导通探针安装在治具盖板或治具底座上，导通探针正对在OLED屏的电极；所述硅光二极管安在治具盖板和/或治具底座的固定槽上，硅光二极管正对着OLED屏；所述治具盖板安装在治具底座上。本实用新型提供的OLED屏半衰期自动测量装置极大的缩小了设备的占地面积，降低了测试人员的技能要求，同时测试的OLED屏数量更多，大大提高了测量效率。

著录项

  • 公开/公告号CN209118737U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州弗士达科学仪器有限公司;

    申请/专利号CN201821691846.4

  • 发明设计人 廉瑞;

    申请日2018-10-18

  • 分类号

  • 代理机构苏州国诚专利代理有限公司;

  • 代理人李凤娇

  • 地址 215021 江苏省苏州市工业园区唯亭镇唯新路99号

  • 入库时间 2022-08-22 09:53:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-16

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号