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一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法

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摘要

本发明公开一种利用表面等离激元散射对纳米物质进行成像的检测方法，所述检测方法包括：在盖玻片上镀金薄膜；在所述金薄膜上附着纳米物质；光源发出的光经过扩束整形后，以p偏振态聚焦到油浸物镜的后焦平面；调节入射光在油浸物镜的后焦平面上的位置，使入射光斜入射到所述盖玻片上，在所述金薄膜表面激发表面等离激元，所述表面等离激元沿金薄膜表面传播，与所述纳米物质产生散射；所产生的表面等离激元散射转化为光信号与反射光一起被油浸物镜收集；通过CCD对所收集的包含有表面等离激元散射信号的反射光进行成像。

著录项

  • 公开/公告号CN104792746B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201410751328.7

  • 发明设计人 路鑫超;刘虹遥;陈鲁;

    申请日2014-12-09

  • 分类号G01N21/63(20060101);

  • 代理机构11302 北京华沛德权律师事务所;

  • 代理人刘杰

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-26

    授权

    授权

  • 2015-08-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/63 申请日:20141209

    实质审查的生效

  • 2015-07-22

    公开

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