首页> 中国专利> 基于氩气环境改变温度条件下电子元器件高能电子辐照效应的原位测试方法

基于氩气环境改变温度条件下电子元器件高能电子辐照效应的原位测试方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

基于氩气环境改变温度条件下电子元器件高能电子辐照效应的原位测试方法，涉及电子技术领域。本发明是为了解决电子元器件地面辐照过程中，由于环境气氛和温度的影响，导致电性能原位测试不准确和评价效率低的问题。本发明采用氩气环境，这样可以有效地排除以往辐照试验过程中空气中氧气的影响和真空辐照中负压的影响，提高了电子元器件原位测试的准确性。在辐照过程中进行变温辐照，温度区间选取双极晶体管工作的环境温度条件，这样的原位测试方法低剂量率增强效应加速试验方法步骤简单，易于操作。本发明适用于双极型电子元器件空间辐照效应研究和试验。

著录项

公开/公告号CN106353622B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-02-19

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
展开▼

申请/专利号CN201610911425.7
发明设计人李兴冀;马国亮;杨剑群;刘超铭;
展开▼

申请日2016-10-19
分类号
代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人岳昕
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2022-08-23 10:26:07

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-02-19

授权

授权
2017-03-01

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20161019

实质审查的生效
2017-03-01

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20161019

实质审查的生效
2017-01-25

公开

公开
2017-01-25

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 基于氩气环境改变温度条件下电子元器件高能电子辐照效应的原位测试方法 [P] . 中国专利： CN106353622B . 2019.02.19
2. 电子元器件带电粒子辐照效应地面等效注量计算方法 [P] . 中国专利： CN103116176A . 2013-05-22
3. Electronic component test equipment, test methods of electronic components and electronic component testing system [P] . 日本专利： JPWO2008139853A1 . 2010-07-29

机译：电子元器件测试设备，电子元器件测试方法及电子元器件测试系统
4. Measuring errors - correction method, quality test method for electronic components and characteristic - measuring system of electronic components [P] . 德国专利： DE10257434B4 . 2017-07-13

机译：测量误差-电子元器件的校正方法，质量测试方法和特性-电子元器件的测量系统
5. Electronic components and test methods of electronic components such as test equipment [P] . 日本专利： JP3163128B2 . 2001-05-08

机译：电子元器件及测试仪器等电子元器件的测试方法