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公开/公告号CN100356733C
专利类型发明授权
公开/公告日2007-12-19
原文格式PDF
申请/专利权人 富士通株式会社;
申请/专利号CN200510006218.9
发明设计人 胜山恒男;森永正信;宫崎英明;野村祐士;安家武;福山训行;若本雅晶;野岛聪;
申请日2005-01-17
分类号
代理机构北京三友知识产权代理有限公司;
代理人李辉
地址 日本神奈川县
入库时间 2022-08-23 09:00:06
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2007-12-19
授权
2006-02-22
实质审查的生效
2005-12-28
公开
机译: 半导体故障分析设备,故障分析方法,故障分析程序和故障分析系统
机译: 故障分析设备,多集群系统,故障分析程序和故障分析方法
机译: 光通信系统,故障概率估计设备,故障分析设备和光通信系统故障分析方法
机译:提出以JEOL Beam Tracer半导体分析和故障分析设备为中心的故障分析流程,旨在通过像差校正技术实现更高的分辨率
机译:Hamamatsu Photonics倒置半导体故障分析设备能够对半导体设备进行背面分析,以在短时间内识别故障点
机译:空间故障网络中事件重要性与故障模型分析方法研究
机译:基于故障信息分析设备可靠性的方法研究
机译:预测风力涡轮机故障和相关成本:调查故障原因,影响和严重性,建模可靠性并使用可靠性方法和机器学习技术预测风力涡轮机的故障时间,维修时间和故障成本
机译:故障原因缺失时测试故障时间与故障原因之间的相关性
机译:这项研究的背景是,在印度尼西亚航空高中Curug Tangerang的文凭III飞机工程学习计划(TPU学习计划)的学习飞机系统故障排除的学生中,无故障性能的表现很差。由于旨在提供学习经验的学习旨在采取正确的步骤对飞机系统进行故障排除而没有模块指导的故障,因此该学习受模拟器准备情况,学生准备情况和模块有效性的因素影响。初步研究表明,成绩不佳的原因是该模块无法指导学生正确无误地进行故障排除。这项研究的目的是确定学习疑难解答的当前状态,设计可以提高无故障性能的学习模块,制定学习步骤,进行无故障性能评估,并分析使用学习模块的影响。使用研究与开发方法论,通过初步研究,模块的计划和准备以及模块的开发和测试三个主要研究阶段,对11个批次III文凭III的56名学生进行了研究,直到发现有效地改善无故障性能的模块。更广泛的试验结果。通过与讲师的访谈,课程文件和模块的学习文件,对学生的问卷调查,学习结果测试和实际观察来进行数据收集。研究结果是一个有效的学习模块,可提高无限制性能,这是通过在有限且较宽的测试中通过统计计算t-计数t-t表显示的结果以及在每个试验阶段的平均值均得到提高而得出的。这一增加表明,新模块内容的开发将通过增加故障排除中子能力的实现,即识别损坏,确定损坏程度,消除损坏以及修理或更换零件,从而对提高无故障性能的实现产生重大而有效的影响。
机译:通过扫描电子显微镜分析设备故障