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共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置

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摘要

本发明属于化学物质检测技术领域，涉及一种共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置。该方法将共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用共焦技术解决待测样品表面三维形貌的高精度测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术解决待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。本发明首次将共焦测量技术和分立荧光物质成分探测技术相融合，保证荧光成像系统在待测样品表面每一个位置都具有相同的横向分辨率，并最终将测得的荧光光谱分布和三维形貌进行精确的对应。此技术在生物学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。

著录项

公开/公告号CN108801987B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-23

原文格式PDF
申请/专利权人杨佳苗;
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申请/专利号CN201810221156.0
发明设计人杨佳苗;李静伟;龚雷;
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申请日2018-03-17
分类号G01N21/64(20060101);
代理机构
代理人
地址 201702 上海市青浦区徐泾镇联民路877弄13号1201室
入库时间 2022-08-23 11:36:34

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