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公开/公告号CN108573666B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-13
原文格式PDF
申请/专利权人 友达光电股份有限公司;
申请/专利号CN201810387629.4
发明设计人 黄明益;刘育荣;卢文哲;林承德;许清华;
申请日2018-04-26
分类号G09G3/00(20060101);
代理机构11805 北京市立康律师事务所;
代理人梁挥;孟超
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号
入库时间 2022-08-23 12:18:33
机译: 缺陷像素校正电路,使用该缺陷像素校正电路的图像处理系统以及缺陷像素校正方法
机译: 缺陷像素校正电路,使用相同像素的图像处理系统以及缺陷像素校正方法
机译: 具有光检测元件的像素电路,显示装置以及用于校正像素电路的光检测元件的阈值和迁移率的驱动方法
机译:通过亮度校正电路改善碳纳米管场发射显示器中像素间的均匀性
机译:在具有可变像素尺寸的3D像素化CdZnTe检测器中研究具有时间相关瞬态信号的亚像素位置分辨率
机译:50μm像素间距晶片尺度CMOS的三维级联系统分析,用于数字乳房断层合成的50μm像素间距晶片级CMOS活性像素传感器X射线检测器
机译:基于亚像素检索火灾温度的亚像素检测的新方法使用大气校正的MODIS热红外数据
机译:研究像素内的Vcal校准,以及研究宏观辐射对CMS像素检测器传感器的影响。
机译:校正至:显微镜图像中像素到像素的深核检测
机译:基于MEDIPIX3RX检测器的断层扫描基于像素 - 逐像素校准的堆积效果校正
机译:城市图像分类:每像素分类器,子像素分析,基于对象的图像分析和地理空间方法。