不良作风

摘要： 作风问题无小事,不良作风危害不亚于腐败。一些党员干部在工作中存在的这些作风必须杜绝。一是借机敛财,吃拿卡要。不考虑怎么给群众办实事、办好事,只考虑自己的利益。比如,陕西省户县某村委会主任在办理危房改造补助资金中请工作时,向5名村民收取“跑腿费”3.58万元。这种“微腐败”行为,寒了群众的心,丢了党员干部的脸。

摘要： 陈思炳先生的《攀“大”》一文(见《杂文月刊》2020年11月上原创版)以大量活生生的事实,批评了一些地方官员为了自己显政绩、捞资本,自我贴金、求升心切,为加官晋爵的阶梯而攀“大”的不良作风。对此笔者也深有同感。但是,在现实社会生活中,一些地方官员和国企领导不仅存在着攀“大”的不良作风,还存在着攀“小”的问题。

摘要： 百年大党的作风,是指中国共产党的各级组织和全体党员在政治、思想、组织、工作、学习和生活等实践过程中形成的比较稳定的反映党的特征和品格的整体精神风貌。习近平总书记曾指出:“作风问题具有顽固性和反复性,形成优良作风不可能一劳永逸,克服不良作风也不可能一蹴而就。”事实上,中国共产党在领导中国人民进行革命、建设和改革过程中,能得到广大人民群众长期拥护、支持的一个重要原因就是广大人民群众对党的优良传统和作风认同进而产生了信任。

摘要： 今年是中国共产党建党100周年,是国企改革三年行动关键之年,在市委、市政府和集团公司的领导下,哈尔滨公交公司团结带领全体员工,面对后疫情时代严峻的企业外部环境,解放思想,转变观念,克服困难,直面挑战,在危机中育新机,于变局中开新局,结合党史学习教育,开展服务质量提升年专项行动、我为群众办实事实践活动、“四强四提四创”活动、“转作风、强服务、树形象”活动、整治“假把式、软把式、歪把式”不良作风专项整治行动。

摘要： 党的作风就是党的形象,关系人心向背,关系事业成畋,关系党的生死存亡。习近平总书记反复强调,形成优良作风不可能一劳永逸,克服不良作风也不可能一蹴而就,作风建设永远在路上。可见,抓住作风建设这个根本,就抓住了党的建设的要害和关键。加强作风建设一丝都不能放松,一刻都不能停顿,必须找准定位,瞄准“耙子”,长期坚持,一抓到底。

摘要： 古人云:“心浮则气必躁,气躁则神难凝。”这说的是做人不踏实,做事不扎实,志大才疏,急功近利。领导干部如果产生浮躁之气,从浅层次看是一种情绪、一种心理状态,从深层次看,则是为官从政的一种不良作风。浮躁祸国殃民,贻害无穷,必须戒此顽疾。“非淡泊无以明志,非宁静无以致远。”力戒浮躁,最根本的是要坚守做人的操守和从政的道德,树立正确的世界观、人生观、价值观,树立正确的权力观、地位观、利益观,正确对待名利地位,正确看待进退留转,淡泊处世,静心思考,磨炼意志,砥砺志趣,耐得住寂寞,守得住清贫,“静而后能安,安而后能虑,虑而后能得”。

摘要： 近日,专题片《一抓到底正风纪》详细披露秦岭违建别墅整治始末。一幅幅触目惊心的画面,一个个阳奉阴违的细节,令人震凉,更发人警醒。没有实打实的作风,就难有实打实的作为。秦岭违建别墅“清查不彻底、整而未洽、禁而不绝”的背后,正是不良作风在作祟。在整治上弄虚作假,在督察上走马观花,形式主义走过场,官僚主义不作为,如此作风之下,“边整治、边违建”的结果,可想而知。

摘要： 由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)抽出半导体器件的多个网路中通过从不良观察图像设定的多个分析区域的至少1个的候补网路、以及该候补网路通过分析区域的通过次数，选择通过次数最多的候补网路，以作为第1不良网路，并且，着眼于第1不良网路未通过的分析区域，进行第2不良网路的选择。由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。

摘要： 该面形状不良产生区域推断方法是推断将被加工材料塑性加工而得的塑性加工品的面形状不良的产生区域的面形状不良产生区域推断方法，具备取得第一应力分布σ(T1)的第一应力分布取得工序、取得第二应力分布σ(T2)的第二应力分布取得工序、取得比较应力分布σ(T1，T2)的比较应力分布取得工序、取得分割比较应力分布σDIV(T1，T2)的分割比较应力分布取得工序、以及分别推断分割区域Dk是否是面形状不良的产生区域的面形状不良产生区域推断工序。

摘要： 由至少取得半导体设备的图案图像(P1)的检测信息取得部(11)；取得布局图像(P3)的布局信息取得部(12)；对半导体设备的不良进行解析的不良解析部(13)；和将不良解析的信息显示在显示装置(40)上的解析画面显示控制部(14)构成不良解析装置(10)。解析画面显示控制部(14)，作为显示在显示模块(40)的半导体设备的图像，生成将图案图像(P1)和布局图像(P3)重叠后的重叠图像；同时，设定重叠图像上的布局图像(P3)对图案图像(P1)的透过率。由此，实现了能确实且高效地进行半导体设备的不良解析的半导体不良解析装置、解析方法、解析程序、及解析系统。

摘要： 本发明涉及一种新闻写作风格建模方法、写作风格‑影响力分析方法及新闻质量评估方法。本发明的目的是提供一种新闻写作风格建模方法、写作风格‑影响力分析方法及新闻质量评估方法。本发明的技术方案是：一种新闻写作风格建模方法，其特征在于：根据量化的可读性、逻辑性、可信度、书面度、交互性、有趣度、动人性和结构完整性构建。本发明适用于社交媒体数据挖掘领域。

摘要： 本发明提供一种操作风险分析服务器和操作风险分析系统。在从数据库（4）中存储的操作风险事象中提取有频出增加倾向的事象发生原因时，提取对象不限于特定的事象发生原因的组合，可以不依赖于事象发生原因的操作量，而根据相对于该事象发生原因以外的相对的多少来提取，进而可以从有频出增加倾向的事象发生原因的组合深入提取有频出增加倾向的事象发生原因。分析服务器（1）对于出现频度为最小频度阈值以上的事象发生原因的组合模式，如果模式的风险事象件数相比操作量、或者以少数项目数异常提取出的模式的风险事象件数，显著地多于显著水准阈值以下，则提取该事象发生原因的组合模式。

摘要： 提供能够提供节省输入操作、验证操作、减少输入失误的端子压接不良检测装置的压接不良判定数据制作方法。在用于判定压接处理是否合格的压接不良判定数据制作方法中，在端子压接装置(21)中预先存储合格品用加工数据和不合格品产生用加工数据，具备：不合格品检测波形数据生成工序，根据不合格品产生用加工数据进行端子压接处理，生成表示此时的压力值的变化的检测波形数据并存储；合格品检测波形数据生成工序，根据合格品用加工数据进行端子压接处理，生成表示此时的压力值的变化的检测波形数据并存储；以及判定数据生成工程，根据在不合格品检测波形数据生成工序中存储的检测波形数据和在合格品检测波形数据生成工序中存储的检测波形数据的关系，计算基准波形数据和容许公差并生成合格/不合格判定用数据。

摘要： 由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)抽出半导体器件的多个网路中通过从不良观察图像设定的多个分析区域的至少1个的候补网路、以及该候补网路通过分析区域的通过次数，选择通过次数最多的候补网路，以作为第1不良网路，并且，着眼于第1不良网路未通过的分析区域，进行第2不良网路的选择。由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。

摘要： 由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)，使用由多个层的每一层中的配线图案的图案数据组记述半导体器件的多个配线的构成的配线信息，将多个配线中通过分析区域的配线作为不良的候补配线而抽出，并且，在候补配线的抽出中，通过进行使用图案数据组的配线图案的等电位追踪，从而抽出候补配线。由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。

摘要： 由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、以及对半导体器件的不良进行分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)具有分析区域设定部，该分析区域设定部通过比较不良观察图像中的亮度分布和规定的亮度临界值，从而抽出起因于不良的反应区域，并对应于反应区域而设定用于半导体器件的不良分析的分析区域。由此，实现了一种能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。

摘要： 由取得半导体设备的不良观察图像(P2)的检测信息取得部(11)；取得布局信息的布局信息取得部(12)；对半导体设备的不良进行解析的不良解析部(13)；和将解析结果信息显示在显示装置(40)上的解析画面显示控制部(14)，构成不良解析装置(10)。不良解析部(13)，参照不良观察图像(P2)来设定解析区域，同时，对半导体设备的布局中所含的多个网路，抽出通过解析区域的网路。由此，半导体不良解析装置、解析方法、及解析程序可实现准确且高效地进行半导体设备的不良解析。