自测试

摘要： 为了将虚拟仪器技术应用于军用嵌入式计算机的批产自动测试,基于模块化、标准化思想展开自动测试设备的研究。针对某型飞行管理计算机进行了测试设备的软、硬件系统设计,实现了模拟量采集、离散量输入激励、离散量输出测试、1394总线通讯,以及ATE自测试等功能。通过实际使用效果验证了设计的合理性,同时该设计思想还具有较强通用性和推广性,为虚拟仪器测试环境应用于计算机批产测试提供了实践平台,还为类似设备提供优良的系统设计方案。

摘要： 2021年2月6日,随着最后一个方向(最小摆振)静力加载完成,由上海电气设计、上玻院东台公司生产制作的S90m叶片在中复测试中心顺利完成全尺寸静力测试。自测试开始至结束,仅耗时4天时间就完成全尺寸静载测试,通过速度创造了同类大型叶片静载测试的新纪录。上海电气S90m量级叶片的设计首研成功,进一步奠定了其海上大型叶片自主设计研发的引领地位。同时上玻院试制团队也再一次向行业展示了高质量、高效率、敢打硬仗的特有品质。

摘要： 针对机载电源变换器传统手动测试平台组成、接线较多,且测试过程复杂的问题,设计了一种自动测试设备.通过将高性能、高性价比的PXI测试平台应用于某电源变换器自动设备的软、硬件系统设计,进行了电压稳定度、负载稳定度、效率、频率、相序、功率因数、启动时间等接口设计以及ATE自测试设计.实际效果证明能大幅提高测试效率,降低调试专业度,可以较好服务于批产;同时该设计采用模块化、标准化思想,具有较强通用性和推广性.

摘要： 对波音737NG飞机高频通信系统故障进行研究,分析排故过程中出现的错误,为排除高频通信系统故障提供帮助和指导.

摘要： 根据航空领域不同类型的离散量输入信号,对航空电子设备的离散量输入采集方法进行分析研究,介绍了传统离散量接口采集电路设计及BIT测试方法,同时提出了一种可兼容多种输入类型的离散量采集电路设计方法并进行了详细介绍,该电路主要包含一阶滤波模块、类型/比较电压选择模块、滞回比较模块以及自测试模块,该电路可兼容多达四种不同类型的离散量输入信号采集,且具备完善的自测试功能.

摘要： 传统的导弹测试采用地面测试的方法,弹地接口庞大、资源浪费、测试准确性差,针对该缺点,提出了基于SOPC技术的通用化弹载自测试平台,具有通用化、小型化的特点,同时利用可编程特性实现重复配置功能,满足多种不同装备型号的弹载测试功能需求.详细阐述了实现此项技术的SOPC系统架构、硬件平台及系统软件的设计方法,同时给出了自测试平台的在线配置方法.

摘要： 如今很多新款手机都主打“XX AI引擎”,无论是玩游戏还是日常操作都能获得更为流畅和稳定的体验。然而,就以我们最常使用的微信APP为例,这些所谓的“API擎”能起到多大效果?这个答案只有自己亲自测试后才能知晓。

摘要： 传统的相控阵雷达校准方法存在着测试系统昂贵复杂,测试工作量大,步骤环节多,积累误差大等问题.为实现系统快速校准,提出了一种改进的近场校准系统,创新性地采用了被测整机自闭合的测试方法,即由雷达产生自测信号与完成数据采集,完成从天线、TR组件到中频接收机的整机全链路测试,并且提出了一种基于反相对消原理的校准数据获取方法.校准系统本身由高精度平面扫描机构,稳相馈电网络,微波暗箱,测试控制系统等部分组成,结合新的测试与校准方法,降低了硬件结构的复杂度,简化了测试环境,利于工程上的大量应用.相比传统的测试与校准,新型的方法在工程应用中提高了测试效率和校准精度.

摘要： 保护系统的可靠性至关重要,核安全法规标准对保护系统的自诊断方法提出了要求.ALS平台是西屋公司开发并通过NRC认证的新一代安全系统平台.以ALS平台为例,对保护系统的自诊断方法进行深入描述和详细分析,为后续国产系统的开发提供了借鉴.

摘要： 本文综述了国际上几家公司在微处理器设计中所采用的系统级验证方法,介绍了用于创建系统级模拟验证平台的新工具TestBuilder,及其在建立微处理器系统级模拟验证平台中的应用.

摘要： 本文综述了国际上几家公司在微处理器设计中所采用的系统级验证方法,介绍了用于创建系统级模拟验证平台的新工具TestBuilder,及其在建立微处理器系统级模拟验证平台中的应用.

摘要： 本文综述了国际上几家公司在微处理器设计中所采用的系统级验证方法,介绍了用于创建系统级模拟验证平台的新工具TestBuilder,及其在建立微处理器系统级模拟验证平台中的应用.

摘要： 本文综述了国际上几家公司在微处理器设计中所采用的系统级验证方法,介绍了用于创建系统级模拟验证平台的新工具TestBuilder,及其在建立微处理器系统级模拟验证平台中的应用.

摘要： 本发明提供一种平行板电容型MEMS加速度计内建自测试电路，以及一种自测试方法，对平行板电容加速度计提供电激励，将电容传感模块输出的信号进行放大，模数转换和数字处理，根据不同条件下的自测试供电电压V1和V2以及电容传感模块的输出响应Vc分析其灵敏度S，从而实现对平行板电容型MEMS加速度计的工艺缺陷进行诊断并且对电容加速度计的灵敏度S进行内建自测试。优化了外部环境和寄生电容对输出信号的影响，提高测试的标准化程度、降低对复杂测试仪器的依赖度，从而有效降低其测试与产品成本。

摘要： 本发明涉及红外传感技术领域，尤其涉及一种自测试红外热电堆温度传感器及自测试方法，包括发热电阻和本地温度测量模块均与信号处理模块连接；热电堆通过放大器与信号处理模块连接；信号处理模块与自测试响应分析模块连接；本申请利用信号处理模块控制发热电阻在两个不同控制电压下产生红外辐射，热电堆将红外辐射转化为电压差信号，放大器放大两个电压差信号，信号处理模块根据控制电压、放大后的电压差信号和本地温度值获得两个电学响应率，自测试响应分析模块根据电压差信号、电学响应率和本地温度值基于概率的鲁棒性异方差神经网络对自测试红外热电堆温度传感器的温度检测的准确度进行判断，实现了红外热电堆传感器对自身的准确度的检测。

摘要： 本发明提供了一种低功耗扫描自测试电路，所述自测试电路包括相移器、线性反馈移位寄存器、多输入特征分析寄存器，其特征在于，所述扫描自测试电路还包括扫描森林结构，所述扫描森林结构包括与相移器连接的多棵扫描树，其中每棵扫描树包括多个扫描链，所有所述扫描链连接于同一时钟信号的输入端，使同一扫描树的所有扫描链被同一个时钟信号驱动；每一个测试使能信号的输入端连接所有所述扫描链，使不同的权值分配到所有扫描链中；所述的每棵扫描树的多个扫描链中，每一个扫描链的每一对触发器在电路中没有共同通达的节点，扫描链与扫描链之间距离相近的触发器相连接；所述线性移位反馈寄存器包括用于保存所有确定性测试向量的寄存位。

摘要： 根据一个实施例，提供了一种集成在芯片上的自测试系统，所述芯片包括用于执行选择的应用的功能逻辑模块。所述自测试系统包括：所述功能逻辑模块的主接口，所述主接口配置为与主装置接口；输入接口协议生成器，用于生成待插入到所述主接口中的模式；所述功能逻辑模块的次接口，所述次接口配置为与次装置接口。所述系统还包括仿真器引擎，耦接到所述次接口，所述仿真器引擎用于基于所插入的模式测试所述功能逻辑模块的功能，所述功能被配置为与耦接到所述次接口的所述次装置通信，其中当所述次装置未耦接到所述芯片时，所述仿真器引擎测试所述功能。

摘要： 公开了一种锁存器的自测试电路及其自测试方法。自测试电路包括自测试主控单元和自测试模块。自测试主控单元包括：自测试模块使能逻辑电路，用于产生自测试模块的使能信号；自测试模块测试向量产生电路，用于产生自测试模块的测试向量；存储单元，用于存储自测试模块的测试结果。自测试模块被配置为：根据使能信号选择锁存器自测试子模块进入自测试模式；当被选择进行自测试的锁存器自测试子模块的锁存器输出与测试向量相同时，测试结果为该锁存器自测试子模块的锁存器无故障，否则有故障。本公开的方案实现了采用较少的数字集成测试电路有效提高锁存器的测试覆盖率，解决了锁存器测试的难题。

摘要： 一种温度测量电路，包括：带隙基准电路，被配置为生成与工作温度无关的固定的带隙基准电压；基准电压生成器电路，被配置为通过调整所述带隙基准电压生成测量基准电压；感测电路，被配置为基于偏置电流生成温变电压，其中，所述温变电压根据所述工作温度变化；模数转换器电路，被配置为基于所述测量基准电压和所述温变电压生成指示所述工作温度的第一数字代码；以及模拟内置自测试(BIST)电路，被配置为生成多个标志信号，其指示所述带隙基准电压、所述测量基准电压和与所述偏置电流相对应的偏置电压中的每一个是否包括在预定范围内。

摘要： 建议了一种可自测试的测量系统(SS)，其可以具有至少三个状态：运行状态和至少两个测试状态。在第三测试状态下，数字信号产生单元(DSO)用检查信号直接刺激数字输入电路(DSI)，从而可以检查信号链。在第二测试状态下，数字信号产生单元(DSO)用检查信号刺激模拟信号链(DR，AS)和数字输入电路(DSI)，从而可以对该信号链进行检查。在第一测试状态下，数字信号产生单元(DSO)用检查信号刺激模拟信号链(DR，AS)、测量单元(TR)(典型地是超声换能器)和数字输入电路(DSI)，从而可以然后检查该信号链并监视参数是否符合要求，特别是信号幅度。在运行状态下，数字信号产生单元(DSO)用输出信号刺激模拟信号链(DR，AS)、测量单元(TR)(典型地是超声换能器)和数字输入电路(DSI)，然后可以监视该信号链的参数是否符合要求，特别是信号幅度。

摘要： 本发明公开硅基显示器件的自测试装置，包括：测试电源输入端口；外部控制引脚，设置于硅基显示器件，用于自测试时接收外部的自测控制信号；信号发生器模块，内置于硅基显示器件的驱动电路中，用于收到外部控制引脚所接收到的自测控制信号时产生与自测控制信号相对的测试图像信号；信号选择模块，内置于硅基显示器件的驱动电路中，用于收到外部控制引脚所接收到的自测控制信号时将信号发生器模块与图像处理模块之间传输测试图像信号的传输路径导通。还公开自测试方法及硅基显示器件。其不需外接测试信号发生设备、测试控制装置等，有利于提高生产效率，在硅基显示器件的所有制程工序完成前就通过光电性能测试筛选出不良品，避免不良品流入后工序。

摘要： 有自测试能力的集成电路装置包括图案生成器，结果存储和可测试逻辑。可测试逻辑包括多个扫描通道，通道的每个分别耦接在图案生成器和结果存储之间。自测试控制器被布置为监督关于可测试逻辑的自测试以生成自测试结果数据，自测试结果数据被存储在结果存储中。处理资源还耦接至自测试控制器并耦接在图案生成器和结果存储之间，处理资源能够评价存储在结果存储中的自测试结果数据。可测试逻辑包括处理资源，其被布置为与自测试控制器协作以便自测试还关于处理资源且处理资源能够在自测试之后评价自测试结果数据。

摘要： 本发明提供了一种低功耗扫描自测试电路，所述自测试电路包括相移器、线性反馈移位寄存器、多输入特征分析寄存器，其特征在于，所述扫描自测试电路还包括扫描森林结构，所述扫描森林结构包括与相移器连接的多棵扫描树，其中每棵扫描树包括多个扫描链，所有所述扫描链连接于同一时钟信号的输入端，使同一扫描树的所有扫描链被同一个时钟信号驱动；每一个测试使能信号的输入端连接所有所述扫描链，使不同的权值分配到所有扫描链中；所述的每棵扫描树的多个扫描链中，每一个扫描链的每一对触发器在电路中没有共同通达的节点，扫描链与扫描链之间距离相近的触发器相连接；所述线性移位反馈寄存器包括用于保存所有确定性测试向量的寄存位。