Finsler度量

摘要： 本文主要研究了双挠积 Finsler 度量的平均 Berwald 曲率和迷向平均 Berwald 曲率,给出了双 挠积 Finsler 度量是弱 Berwald 度量的充要条件,证明了在一定条件下具有迷向平均 Berwald 曲率的双挠积 Finsler 度量是弱 Berwald 度量。

摘要： 设F1和F2是两个Finsler度量,f1和f2是乘积流形M=M1×M2上的非负光滑函数,双挠积Finsler度量是在乘积流形上赋予的Finsler度量F2 =f22F12 +f12F22.文章首先推导出双挠积Finsler度量的Berwald联络系数,其次给出了双挠积Finsler度量的Berwald曲率系数公式,最后得到双挠积Finsler度量是Berwald度量的充要条件,并证明了具有迷向Berwald曲率的双挠积Finsler度量是Berwald度量.

摘要： 刻画射影平坦Finsler度量是著名的Hilbert第四问题正则性情形,且任意一个Finsler度量可以通过它的测地线方程诱导一个Spray,因此研究射影平坦Spray的可度量化问题令人关注.本文研究一类射影平坦Spray的可度量化问题,通过欧氏度量|y|和内积的线性组合,构造两类射影平坦Spray;其次利用反证法和具有迷向曲率Spray的定义,证明以上两类Spray均不由任意Finsler度量诱导,且不具有迷向曲率.

摘要： 局部对偶平坦的Finsler度量起源于信息几何,是一种重要的应用非常广泛的度量。根据局部对偶平坦Finsler度量的定义,研究了一类形如F=kα+εβ(k,ε均为常数)的局部对偶平坦的Randers度量,这里α是流形上的一个黎曼度量,β是流形上的一个1-形式,找到了一组刻画这类度量是局部对偶平坦的微分方程。当α具有常数曲率时,得到这类度量是局部射影平坦的,进而证明了它是一个局部闵可夫斯基度量。

摘要： 刻画射影平坦Finsler度量是著名的Hilbert第四问题正则性情形,且任意一个Finsler度量可以通过它的测地线方程诱导一个Spray,因此研究射影平坦Spray的可度量化问题令人关注.本文研究一类射影平坦Spray的可度量化问题,通过欧氏度量||y和内积,x y<>的线性组合,构造两类射影平坦Spray;其次利用反证法和具有迷向曲率Spray的定义,证明以上两类Spray均不由任意Finsler度量诱导,且不具有迷向曲率.

摘要： 共形向量场在Finsler几何的研究特别是共形航海问题中起着重要的作用.本文通过建立和求解相应的偏微分方程,完全确定以广义径向场为共形向量场的所有球对称Finsler度量.这些度量包含常截面曲率的Riemann度量.

摘要： 通过定义一类由欧氏度量和两个1形式构成的Finsler度量,利用对偶平坦方程得到了该类Finsler度量是对偶平坦的等价条件,并得到了一个满足该对偶平坦等价条件的解.%We defined a class of Finsler metrics w hich could be expressed by a Euclidean metrics and two 1-forms .By using dually flat equations ,we obtained the equivalent condition for those Finsler metrics to be dually flat ,and obtained a solution satisfying the dually flat equivalent condition .

摘要： 本发明公开了一种测试用例覆盖率的度量方法和度量装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：根据被测代码的结构关系数据生成测试用例的结构关系数据；通过计算被测代码的结构关系数据与测试用例的结构关系数据的相似度，得到测试用例的覆盖率。该实施方式能够通过将测试用例与被测代码进行结构关系度量来进行测试用例覆盖率的度量，且具体到了方法内部节点之间的关系度量，维度更多、更细，度量结果更准确，对测试用例的改进提供了数据支持。

摘要： 本发明涉及一种温度量测及温度校准的方法和温度量测系统。该量测方法包括：将具有电阻与温度具有第一函数关系的第一测试结构的校温器件放置在腔室内的承载台上；使腔室的温度达到设定温度；将电压加在第一测试结构的相对两端，获得对应的电流和电阻；根据电阻和第一函数关系获取校温器件的实际温度。本申请的技术方案在承载台上放置具有电阻与温度具有第一函数关系的第一测试结构的校温器件，通过在腔室的温度达到设定温度后将电压加在第一测试结构的相对两端，获得对应的电流和电阻，根据电阻和第一函数关系获取校温器件的实际温度，利用电流的高精度分辨率获取电阻进而得到校温器件的实际温度，提高了测量校温器件实际温度的精度。

摘要： 本公开实施例涉及半导体领域，提供一种套刻精度量测图形的制作方法及套刻精度量测图形，其中，套刻精度量测图形的制作方法包括：提供晶圆；提供第一光刻胶层，第一光刻胶层具有多个平行排布的初始条状图形；以第一光刻胶层为掩膜图形化晶圆，以将初始条状图形转移到晶圆上，形成第一目标图形；提供第二光刻胶层，第二光刻胶层具有多个第一标记图形及第二标记图形，且第一标记图形沿第一方向延伸，第二标记图形沿第二方向延伸；在形成第一目标图形之后，以第二光刻胶层为掩膜图形化第一目标图形，形成第二目标图形，可以提高套刻精度量测图形的图形精度。

摘要： 本发明涉及空中交通管制的终端区运行场景识别技术领域，且公开了半监督度量、调整度量矩阵和终端区运行场景识别系统，包括终端区运行场景特征模块、度量矩阵计算模块、运行场景相似度量计算模块、评价输出模块、动态度量矩阵调整模块、运行性能指标评价体系模块和引入模块，终端区运行场景特征模块和引入模块的输出端与度量矩阵计算模块的输入端相连，度量矩阵计算模块的输出端与动态度量矩阵调整模块的输入端相连，动态度量矩阵调整模块的输出端与运行场景相似度量计算模块的输入端相连。该半监督度量、调整度量矩阵和终端区运行场景识别系统能够降低信息冗余和特征维度，正确识别场景，提升管制效率，进而提升航班运行效率。

摘要： 本申请涉及网络安全领域，尤其涉及一种完整性度量方法和完整性度量装置。该方法包括：第一度量模块对第二度量模块进行完整性度量以得到第一度量结果。这里，该第一度量模块的可信度高于第二度量模块的可信度。第一度量模块接收第二度量模块发送的第二度量结果。其中，第二度量结果由第二度量模块对待度量对象进行完整性度量得到。第一度量模块向证明模块发送度量结果信息。其中，该度量结果信息由第一度量结果和第二度量结果确定。证明模块根据度量结果信息确定待度量对象是否通过完整性验证。采用本申请的方法，可提升完整性度量的准确性和可靠性。

摘要： 本发明公开了一种可信度量扩展板、基本输入输出系统、以及基本输入输出系统的可信度量方法、装置、计算机设备。其中，所述基本输入输出系统包括主板和可信度量扩展板，可信度量扩展板包括用于与主板的板端PCIE物理槽位对接互连PCIE控制信号的金手指接口；用于与主板的板端连接器实现可信度量控制信号透传的第一接口；用于接入可信度量设备卡的可信度量卡PCIE物理槽位。上述基本输入输出系统，该基本输入输出系统在需要适配可信度量时，主板的PCIE物理槽位能接入可信度量扩展板，不需要适配可信度量时主板的PCIE物理槽位能接入其他标准PCIE设备，避免主板的PCIE物理槽位的浪费。

摘要： 本申请的实施例公开了一种动态度量方法、装置及度量系统，涉及可信计算技术领域，为能够提高系统的安全性而发明。所述方法，基于度量主机的第一处理器，包括：接收度量主机的第二处理器转发的度量控制指令；其中，所述度量控制指令由远程认证服务器对第一控制指令进行第一安全处理得到，并发送至所述第二处理器；对所述度量控制指令进行与所述第一安全处理对应的第一安全检查，其中，所述第二处理器无权获知所述第一解密密钥以及所述第一验签密钥；响应于所述第一安全检查通过，根据所述第一控制指令进行相应的度量控制操作，得到度量控制结果。本申请适用于动态度量。

摘要： 本发明涉及空中交通管制的终端区运行场景识别技术领域，且公开了半监督度量、调整度量矩阵和终端区运行场景识别方法，包括以下步骤：根据终端区运行特点及气象情况，建立终端区运行特征体系和气象特征体系；结合终端区运行特征体系和气象特征体系，引入专家意见，计算出相应的终端区相似场景识别的度量矩阵；终端区实际运行时，新数据引入后的动态调整度量矩阵；结合度量矩阵，并使用NN策略依据样本距离反应运行场景相似度量；根据上一步中运行场景相似度量的结果，利用运行性能指标评价体系对场景策略及运行性能进行评价，得出识别结果。本发明能够降低信息冗余和特征维度，正确识别场景，提升管制效率，进而提升航班运行效率。

摘要： 一种粘度量测装置及粘度量测方法，粘度量测装置包含量测容器及光学侦测处理装置。量测容器用以容纳待测物质及球体。光学侦测处理装置包含光学侦测器、处理单元、数据库、控制单元及供电单元。光学侦测器设置在量测容器的一侧，配置以对量测容器取得待测影像。处理单元信号连接光学侦测器，用以处理及分析待测影像。数据库配置以存储待测影像。控制单元信号连接光学侦测器及处理单元，且用以控制光学侦测器与处理单元的运作。供电单元配置以提供光学侦测器、处理单元及控制单元的所需用电。本发明的粘度量测装置及粘度量测方法利用光学侦测器来侦测球体在待测物质中移动的过程，并通过影像分析的方式计算待测物质的粘度，故可提升量测精准度。

摘要： 本申请涉及半导体度量方法和半导体度量系统。半导体度量系统包括：光谱获取工具，用于使用第一量测协议收集在第一半导体晶圆靶上的基线散射量度光谱，及对于光谱可变性的各种源，收集在第二半导体晶圆靶上的散射量度光谱的可变性集合，前述可变性集合体现前述光谱可变性；参考度量工具，用于使用第二量测协议收集前述第一半导体晶圆靶的参数值；及训练单元，用于使用前述所收集光谱及值来使用机器学习训练预测模型，且最小化并入光谱可变性项的相关联的损耗函数，前述预测模型用于基于生产半导体晶圆靶的光谱对于前述生产半导体晶圆靶预测值。