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刘建勋; 梁红伟; 夏晓川; 黄火林; 柳阳; 申人升; 骆英民; 杜国同;
中国电子学会;
氮化铟镓薄膜; 插入层; 非故意掺杂; 外延生长; 稳定性;
机译:通过插入n〜+ -InGaN电子注入层和p-InGaN / GaN空穴注入层来改善InGaN / GaN MQWs发光二极管的静电放电特性
机译:欧盟〜(3 +)离子掺杂IngaN / GaN量子点和GaN层的比较光学研究通过分子束外延生长
机译:含Si重掺杂GaN过渡层的375 nm紫外InGaN / AIGaN发光二极管的生长模式,内部量子效率和器件性能的研究
机译:Siδ掺杂GaN接触层的InGaN / GaN发光二极管的特性
机译:微金属应用中通过金属有机气相外延生长在6H-SiC(0001)衬底上的GaN和AlGaN的生长,掺杂和表征。
机译:含和不含ZnO高阻透明缓冲层的CdTe电池的掺杂特性和能带排列数据
机译:基于InGaN基激光二极管的非故意掺杂GaN夹层厚度设计与背景掺杂水平相匹配
机译:分子束外延生长mg掺杂GaN同质外延层的光学和磁共振研究。
机译:外延生长衬底,GaN基半导体层的制造方法,GaN基半导体层,发光器件的GaN基半导体制造方法和GaN基半导体发光元件
机译:用作横向VMOS晶体管的晶体管结构包括n掺杂的衬底层,p +掺杂的层,外延生长的n掺杂的层,p掺杂的p阱,p +掺杂的袋和多晶硅层
机译:具有未掺杂和非故意掺杂的氮化物过渡层的发光二极管
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