LSI Logic, Gresham OR, USA;
model based assist features; OPC; scattering bars; micro-lithography; low k1 imaging;
机译:基于灰度图的子分辨率辅助特征清除
机译:衰减相移掩模中的亚分辨率辅助功能,用于极紫外光刻
机译:借助过程窗口感知的光学邻近校正模型的混合子分辨率辅助特征实现方法
机译:模型辅助放置子分辨率辅助功能:实验结果
机译:3D模型辅助学习对象检测和姿态估计
机译:结合原始实验装置和模型辅助表型的植物光敏和重力敏感性定量方法:该方法对三种硬木树种的试验性测试
机译:子分辨率定向自组装辅助功能(SDRAF)布局的设计策略
机译:新特征提取算法,自动数据分类和模型辅助检测评估概率的案例研究(预印本)