Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, P.O.Box 800-211, Shanghai 201800, P. R. China;
nickel phthalocyanine; thin film; short-wavelength; static optical recording properties;
机译:酞菁镍薄膜的光谱,热和绿光静态记录特性
机译:镍(II)-偶氮配合物薄膜的光学性质可能用作高密度可记录光学记录介质
机译:TeO_x薄膜的短波记录特性
机译:镍酞菁薄膜的短波静态光学记录性能
机译:用于光学记录的蒸镀钴/铂多层薄膜的性能
机译:非真空沉积p型氧化镍薄膜的形貌光学和电学性质
机译:用于高密度信息记录的薄膜的光学和磁光特性