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基于视觉引导的三维纳米触发测头系统的研究

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摘要

第一章 绪论

1.1 研究背景

1.2 国内外微纳米三坐标测量机研究现状

1.3 课题研究内容

1.4 课题来源

第二章 三维谐振触发机理的研究

2.1 测球和试样间主要界面力

2.2 三维谐振触发测头触发模型

2.2.1 Z方向接触模型

2.2.2 水平(X和Y)方向接触模型

2.2.3 两种模型在空间上的统一

2.3 测量力大小的估算

2.3.1 水平方向的测量力

2.3.2 Z方向的测量力

2.4 本章小结

第三章 三维触发测头系统的设计和实验系统的柄建

3.1 测头系统整体设计方案

3.2 实验系统的搭建和原理

3.3 系统硬件的介绍

3.3.1 测头系统机械结构

3.3.2 CCD摄像头

3.3.3 石英音叉测头

3.3.4 三维空间定位系统

3.3.5 系统电路的设计

3.3.6 数据采集卡

3.3.7 实验试样夹具的设计

第四章 系统测试软件的设计

4.1 特殊方向接近力曲线测试程序

4.1.1 机器视觉引导算法

4.1.2 运动控制和路径规划算法

4.1.3 基于MFC的界面程序

4.2 微孔三维形貌测量程序的设计

第五章 实验测试与分析

5.1 测头系统性能测试

5.1.1 测头的接近力曲线测试

5.1.2 特殊方向接近力曲线测量

5.1.3 力曲线重复性测量实验

5.1.4 单点触发重复性测量实验

5.1.5 台阶步进测量实验

5.2 视觉引导逼近实验

5.3 三维形貌测量实验

第六章 总结与展望

6.1 研究总结

6.2 工作展望

参考文献

攻读硕士学位期间研究成果

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摘要

随着科学技术的进步,超精密加工技术的精度已经可以达到纳米级别,这些超精密元器件对微纳米尺度的测量提出了更高的要求。传统的三坐标测量机已经无法适用,因此微纳米三坐标测量机(Micro-Nano Coordinate Measuring Machine,简称微纳米CMM)已经成为当今测量领域研究的热门课题。而作为微纳米CMM的核心部件,微纳米CMM测头的研究显得尤为重要。国内外研究机构在微纳米CMM测头的研究上,已经取得了一定的科研成果,但是面对高测量效率、高精度、低测量力、具有三维空间测量能力等苛刻的要求,目前仍然没有较为成熟的解决方案。
  本文针对现有的微纳米CMM测头测量效率低、测量精度低、测量力大等问题,提出了一种基于视觉引导的三维谐振触发测量方案,并根据该方案设计了三维谐振触发测头系统。该测头系统在三维方向上都具有小于1nm的触发分辨力,小于10μN的测量力,可以实现对微结构试样形貌的空间三维触发测量。本文主要介绍的研究工作有:
  1.三维触发测量的理论模型的建立:本文分析了三维谐振触发测头与被测物体表面动态接触的力学模型,在介观尺度上研究和分析了测头在三维方向上的触发机理,建立了Z方向上轻敲模式(tapping mode),X(Y)方向上摩擦模式(friction mode)的理论,使用matlab对运动模型进行模拟仿真,并对仿真的结果进行实验论证。
  2.系统软件的编写:结合视觉系统的引导,本测头系统具有自动逼近试样的能力,从而达到高测量效率的目的。利用C++语言在VS编程环境下编写测头系统控制软件,主要实现测头系统性能测试、机器视觉引导逼近、三维自动测量等功能。
  3.实验测试:针对搭建的测头系统原型机,进行接近力曲线和触发重复性误差等测量实验,由此得到该触发测头的性能指标。并且,用该测头系统对微孔试样和柴油机喷油嘴针阀体喷孔进行三维形貌测量,从而验证该测头系统是否具有三维形貌测量的能力。

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