University of Colorado at Boulder.;
机译:Sn-Ag-Cu球栅阵列封装的基于有限元的焊点疲劳寿命预测方法
机译:塑料球栅阵列封装焊点热疲劳寿命预测
机译:热循环条件下SMT焊点剪切疲劳损伤位错模型与寿命预测
机译:基于有限元的焊点疲劳寿命预测,用于相同的芯片尺寸堆叠芯片比例球栅阵列封装
机译:微电子焊点热力学疲劳寿命预测的热力学损伤力学理论和实验验证。
机译:使用I型删失数据预测Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的热循环寿命
机译:使用改进的累积损伤模型来预测球形阵列型包装中SN-AG-Cu基焊点的疲劳失效
机译:基于损伤力学的63sn-37pb焊料疲劳寿命预测