微处理器工艺及其对单粒子翻转的敏感度

AlersLD; 陈小军

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现在小卫星所采用的功能强大的微型电路几乎控制了卫星的方方面面。尽管这些微型器件的功能强大，但很容易受到重离子引起的单粒子翻转（ＳＥＵ）的破坏。现在的工艺生产的器件对ＳＥＵ不是很敏感。当航天器向更小、更轻的结构发展时微型器件也朝着功耗更低、速度更快的方向发展。以上发展趋势伴随着大量太阳耀斑引起的更严重的重离子流将导致未来的微型器件每天都要经历１００次的ＳＥＵ！为了确保任务的成功，这些小卫星必须考虑采

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来源
《控制工程（北京）》|1998年第6期|47-54,59|共9页
作者
AlersLD; 陈小军;
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作者单位

不详;

不详;

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正文语种 CHI
中图分类电子设备;
关键词
微处理器; 单粒子翻转; 卫星; 电子器件; 敏感度;

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