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EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪; 光学测量法; 对焦系统; 仪器使用; 电子工业; 薄膜涂层; 非接触式;
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机译:薄膜厚度认证标准材料的开发和超薄膜薄膜厚度测量的国际标准化策略
机译:涂膜薄膜厚度测量和管理方法的研究。1:使用反弹型硬度计测量氨基甲酸酯橡胶涂膜薄膜厚度的方法
机译:LA_(2/3)SR_(1/3)MNO_3薄膜的磁光和光学光谱椭圆测定仪
机译:薄膜生长中薄膜孔隙率,表面粗糙度和厚度的随机建模和控制。
机译:新型光学生物测定仪与前节光学相干断层扫描仪测量中央角膜厚度和前房深度的比较
机译:通过溶胶 - 凝胶测定siO 2 -CaO-p 2 O 5生物活性薄膜的厚度评估通过溶胶 - 凝胶获得的siO 2-CaO-p 2 O 5生物活性薄膜的厚度
机译:慢速轻载弹性 - 流体动力接触中薄膜厚度效应分析。第二部分。真空中薄膜厚度的测量。
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
机译:探针型管内面涂膜成分的测定仪器,管内面涂膜性质的测定方法,膜内面涂膜厚度的测定方法,膜内面涂膜成分的测定浓度,膜的厚度方向的测定方法附着量,管内面涂膜厚度的测定方法以及管内面涂膜中元素含量的测定方法
机译:沉积结晶半导体膜的方法,结晶半导体膜,制造半导体装置的方法,半导体装置,制造结晶膜薄膜的方法,结晶膜厚度,薄膜薄膜的薄膜厚度和薄膜厚度的方法
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