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EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪

         

摘要

一、用途 EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪,主要用于测定金属薄膜涂层的厚度,该仪器采用非接触式两次对焦的光学测量法,附以最先进的电子对焦系统,使得测量的重复误差在1μm-3μm之间,利用CCD加监视器观察图像,比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高,广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。

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