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A new, room-temperature, high-rate plasma-based copper etch process

机译:一种新的,室温,高速率等离子基铜蚀刻工艺

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摘要

A new plasma-based copper etch process that operated at room temperature using a conventional parallel-plate electrode design is discussed. In this paper, authors review the reaction mechanism and compare process parameters, such as gas type, pressure, and power, affecting the plasma-copper reaction rate and the edge profile of the etched pattern. Small geometry copper patterns, e.g., less than 0.8 mum, are successfully etched with this new method. This new process is applicable to many nano and microelectronic devices. (C) 2004 Elsevier Ltd. All rights reserved.
机译:讨论了一种新的基于等离子体的铜蚀刻工艺,该工艺使用常规的平行板电极设计在室温下运行。在本文中,作者回顾了反应机理并比较了工艺参数(例如气体类型,压力和功率),这些参数会影响等离子体-铜反应速率和蚀刻图案的边缘轮廓。用这种新方法成功地蚀刻了例如小于0.8μm的小几何形状的铜图案。此新工艺适用于许多纳米和微电子设备。 (C)2004 Elsevier Ltd.保留所有权利。

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