首页> 中国专利> 一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析的方法

一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析的方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

本发明涉及一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析方法，其特征在于：将待测玻璃样片（8）放在便携式放大目镜的场透镜（2），并将玻璃样片内部缺陷确定在场透镜镜面十字刻度线交叉处（9）上；手持玻璃刀支撑部（5），用刀轮（4）手动切割玻璃内部缺陷表面，使玻璃暴露出内部缺陷；将暴露出内部缺陷的玻璃样片切面（11）做镀金处理，在切面表面形成一层适中密度的膜层。本发明优点：结构简单实用、操作方便、适用范围广、效率高，满足生产过程中玻璃基板内部缺陷大小在10μm以上的缺陷成分分析的需要。

著录项

公开/公告号CN110554065A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-12-10

原文格式PDF
申请/专利权人蚌埠中光电科技有限公司;中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司;
展开▼

申请/专利号CN201910821165.8
发明设计人彭寿;张冲;舒众众;刘文瑞;张晓东;冯冠奇;
展开▼

申请日2019-09-02
分类号
代理机构安徽省蚌埠博源专利商标事务所;
代理人杨晋弘
地址 233000 安徽省蚌埠市龙子湖区石屋路199号
入库时间 2024-02-19 15:39:38

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-01-03

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20190902

实质审查的生效
2019-12-10

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析的方法 [P] . 中国专利： CN110554065A . 2019-12-10
2. 玻璃基板内部缺陷检查系统及所处高度位置的检查方法 [P] . 中国专利： CN104655646A . 2015-05-27
3. Defect analyzer substrate, the substrate processing system, defect analysis method for a substrate, a program and a computer storage medium [P] . 日本专利： JP6002112B2 . 2016-10-05

机译：缺陷分析仪基板，基板处理系统，基板的缺陷分析方法，程序和计算机存储介质
4. GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM [P] . 日本专利： JP2012096920A . 2012-05-24

机译：玻璃基板缺陷检查装置以及玻璃基板缺陷检查方法和玻璃基板缺陷检查系统
5. Defect inspection method of the glass substrate , defect inspection apparatus of the glass substrate , and method of manufacturing the glass substrate [P] . 日本专利： JP5625901B2 . 2014-11-19

机译：玻璃基板的缺陷检查方法，玻璃基板的缺陷检查装置以及玻璃基板的制造方法