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一种基于全场光学相干层析技术的显微操作系统

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本发明公开了一种基于全场光学相干层析技术的显微操作系统，该系统包括照明部件、样品臂部件、参考臂部件、光传输部件、控制部件及信号采集部件，照明部件产生的均匀平行光通过光传输部件后分成两束，一束通过物镜一入射至待测样品后返回，另一束通过物镜二入射至参考镜后返回，返回的两束光经过光传输部件产生干涉信号，控制部件通过物镜驱动器一驱动物镜一沿光轴平移，实现样品深度扫描，控制部件通过物镜驱动器二驱动物镜二振动，实现调制，在信号采集部件对干涉信号进行采集后，由控制部件对干涉信号进行解调和三维重构，得到待测样品的三维图像。该显微操作系统避免了样品操作不便和成像失真现象，成像效果好，操作成功率高。

著录项

公开/公告号CN112268505A

专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-26

原文格式PDF
申请/专利权人江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司;
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申请/专利号CN202011139609.9
发明设计人汝长海;翟荣安;陈瑞华;岳春峰;郝淼;孙钰;
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申请日2020-10-22
分类号G01B9/02(20060101);G01B11/24(20060101);
代理机构32257 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人吴竹慧
地址 215100 江苏省苏州市相城区高铁新城环秀湖大厦(原怡城园艺)南三、四楼
入库时间 2023-06-19 09:40:06

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-11-08

授权

发明专利权授予

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