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氧化镓外延薄膜及生长氧化镓外延薄膜的方法

摘要

本发明公开了一种改善氧化镓外延薄膜质量和表面形貌的方法。在切割角蓝宝石衬底上用卤化物气相外延法生长β相氧化镓(β‑Ga2O3)薄膜,通过采用合适的衬底切割角度使得氧化镓外延模式从多畴模式变成单一畴模式外延,得到高质量和表面平滑的氧化镓薄膜。

著录项

  • 公开/公告号CN112420491A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京大学;

    申请/专利号CN202011308099.3

  • 申请日2020-11-20

  • 分类号H01L21/02(20060101);C23C16/30(20060101);C30B25/18(20060101);C30B29/40(20060101);

  • 代理机构32332 江苏斐多律师事务所;

  • 代理人张佳妮

  • 地址 210046 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号

  • 入库时间 2023-06-19 10:00:31

说明书

技术领域

本发明涉及到一种氧化镓外延薄膜及生长氧化镓外延薄膜的方法,属于半导体材料技术领域。

背景技术

氧化镓(Ga

氧化镓薄膜具有多种制备方法,如卤化物气相外延(HVPE)、化学气相沉积、分子束外延和电子束蒸发,其中HVPE由于其较快的生长速率,化学反应简单等特点而备受关注。目前应用于半导体技术的Ga

在c面蓝宝石上异质外延β-Ga2O3时,多重畴生长模式外延源于c面蓝宝石三重旋转堆砌结构和单斜β-Ga

提高异质外延β-Ga

发明内容

本发明目的是:因氧化镓单晶衬底价格昂贵,目前β-Ga

本发明采取的技术方案为:

一种生长氧化镓外延薄膜的方法,其特征在于:采用卤化物气相外延方法在具有切割角的蓝宝石衬底上生长β-Ga

优选的,所述切割角在蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向。

优选的,所述切割角为蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向偏移3-10゜。

优选的,所述切割角为蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向偏移5-7゜。

优选的,生长β-Ga

本发明还公开了一种Ga

优选的,所述切割角在蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向。

优选的,所述切割角为蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向偏移3-10゜。

优选的,所述切割角为蓝宝石衬底c轴沿<11-20>方向偏移5-7゜。

本发明采用具有一定切割角的蓝宝石衬底,合适的切割角会使β-Ga

附图说明

图1为c面(无切割角)蓝宝石衬底外延β-Ga

图2为多重畴外延模式示意图。

图3为本发明切割角蓝宝石β-Ga

图4为单一畴外延模式示意图。

图5为对比例1中切割角为0°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图6为对比例1中切割角为0°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图7为实施例1中切割角为3°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图8为实施例1中切割角为3°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图9为实施例2中切割角为5°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图10为实施例2中切割角为5°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图11为实施例3中切割角为7°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图12为实施例3中切割角为7°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图13为实施例4中切割角为10°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

图14为实施例4中切割角为10°(c面)蓝宝石外延的β-Ga

具体实施方式

本发明可以采用HVPE在切割角蓝宝石衬底上外延,也可以采用其他生长设备如金属有机物气相外延(MOCVD),分子束外延(MBE)等。HVPE反应室一般为双温区结构,分为金属源区(低温区)和生长区(高温区)。HCl和金属源反应,生成的气体产物进入生长区,在衬底表面和O

本发明在一定的生长条件范围内均可实现β-Ga

以下实施例均采用同样的生长条件,通过采用不同切割角的蓝宝石衬底得到β-Ga

具体实施方式

对比例1:

一种氧化镓外延薄膜的生长方法,其步骤包括:

1、2英寸切割角为0°蓝宝石(c面蓝宝石)衬底的清洗和处理。

2、蓝宝石衬底放入立式HVPE反应器中后,缓慢升温至生长温度,即可开始生长β-Ga

3、生长到合适的时间后,按照一定的速率缓慢降至室温,取出样品。本实施例中生长时间约为15分钟,生长速率为10微米/小时。

图5的SEM图像表明薄膜表面呈现片状或层状的多重畴结构;图6的XRC结果表明,无切割角蓝宝石外延的β-Ga

实施例1:

一种改善氧化镓外延薄膜质量和表面形貌的方法,其步骤包括:

1、2英寸切割角为3°蓝宝石衬底的清洗和处理。

2、蓝宝石衬底放入立式HVPE反应器中后,缓慢升温至生长温度,即可开始生长β-Ga

3、生长到合适的时间后,按照一定的速率缓慢降至室温,取出样品。本实施例中生长时间约为15分钟,生长速率为10微米/小时。

图7的SEM图像表明薄膜表面呈现类单一畴结构;图8的XRC结果表明,切割角为3°蓝宝石外延的β-Ga

实施例2:

一种改善氧化镓外延薄膜质量和表面形貌的方法,其步骤包括:

1、2英寸切割角为5°蓝宝石衬底的清洗和处理。

2、蓝宝石衬底放入立式HVPE反应器中后,缓慢升温至生长温度,即可开始生长β-Ga

3、生长到合适的时间后,按照一定的速率缓慢降至室温,取出样品。本实施例中生长时间约为15分钟,生长速率为10微米/小时。

图9的SEM图像表明薄膜表面呈现类单一畴结构;图10的XRC结果表明,切割角为5°蓝宝石外延的β-Ga

实施例3:

一种改善氧化镓外延薄膜质量和表面形貌的方法,其步骤包括:

1、2英寸切割角为7°蓝宝石衬底的清洗和处理。

2、蓝宝石衬底放入立式HVPE反应器中后,缓慢升温至生长温度,即可开始生长β-Ga

3、生长到合适的时间后,按照一定的速率缓慢降至室温,取出样品。本实施例中生长时间约为15分钟,生长速率为10微米/小时。

图11的SEM图像表明薄膜表面呈现类单一畴结构;图12的XRC结果表明,切割角为7°蓝宝石外延的β-Ga

实施例4:

一种改善氧化镓外延薄膜质量和表面形貌的方法,其步骤包括:

1、2英寸切割角为10°蓝宝石衬底的清洗和处理。

2、蓝宝石衬底放入立式HVPE反应器中后,缓慢升温至生长温度,即可开始生长β-Ga

3、生长到合适的时间后,按照一定的速率缓慢降至室温,取出样品。本实施例中生长时间约为15分钟,生长速率为10微米/小时。

图13的SEM图像表明薄膜表面呈现类单一畴结构;图14的XRC结果表明,切割角为10°蓝宝石外延的β-Ga

上述实施例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。

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